3D SRAM中TSV开路测试算法研究与实现

基于三维集成电路技术实现的三维静态随机存储器,其电路中使用了大量的过硅通孔。目前过硅通孔制造工艺尚未成熟,使得过硅通孔容易出现开路或短路故障,从而给三维静态随机存储器的测试带来新的挑战。现有的过硅通孔专用测试方式虽然能够探测出过硅通孔的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计的复杂度。因此,提出一种使用测试算法来探测过硅通孔开路故障的方法。在不增加额外面积开销的情况下,通过内建自测试电路解决三维静态随机存储器中过硅通孔的开路故障检测问题。结果显示,该过硅通孔测试算法功能正确,能够准确探测到过硅通孔的开路故障,并快速定位过硅通孔的开路位置。     

基于改进March SS算法的存储器测试技术研究

摘要：针对存储器的特点,介绍了存储器简化的功能故障模型．基于一种既可以测试静态简化故障又可以测试动态简化故障的MarchSS算法,提出了一种改进的存储器测试算法MarchSSI算法．该算法不仅能测出MarchSS算法测试的所有功能故障,而且能够覆盖MarchSS算法遗漏的故障,使算法故障覆盖率有了一定的提高．通过仿真,验证了算法的可行性．     

基于准深度算法的多值测试诊断策略优化方法

针对复杂系统中多值测试的诊断策略优化问题,根据准深度算法可改善信息熵算法的特点,用准深度算法对基于信息熵的多值测试诊断策略进行优化,提出一种新的多值测试诊断策略优化方法。案例仿真结果表明,基于准深度算法设计的诊断树优于信息熵算法,可用于复杂多值测试的最优诊断策略设计。     

阻抗测试的采样数值算法

提出一种用于阻抗测量的算法———采样数值算法 ,这种算法是将激励信号和阻抗产生的响应信号通过同步采样技术转换成数值序列 ,将响应数值序列在由激励数值序列构成的正交坐标系中分解 ,得到响应数值序列的同相分量和正交分量 ,求出测试阻抗的参数值。这种阻抗测试的算法 ,具有独特的优点 ,不产生原理测量误差 ,测量精度高     

基于蚁群算法的电子设备多值测试故障诊断策略

测试序列优化设计是故障诊断中的重要组成部分,最优测试序列能提高故障诊断的效率,常见的故障诊断系统均基于二值属性,而多值属性系统的测试优化问题研究的较少。针对多值属性系统测试序列优化问题的特点,提出了一种改进蚁群算法,结合二值属性系统和多值属性系统的关系,设计了适应于多值属性优化的状态转移规则和信息素更新机制。针对在等测试费用和故障先验概率的情况下不能寻优的问题,制定了对应的优化标准,符合实际的测试需求。通过对比试验,证明了其能解决电子系统多值属性系统的序列优化问题,扩展了多值属性电子系统的测试优化策略。     

基于CNN的三相逆变器开路故障诊断及其样本条件分析

为了合理选择样本条件以实现高效的智能化诊断,以及克服智能化方法中传统反向传播(back propagation, BP)网络权值较多、局部信息提取能力不足的问题,对基于卷积神经网络(convolutional neural network, CNN)的开路故障诊断方法进行研究,并以典型的三相两电平逆变器为具体对象,着重分析样本时长、样本数量变化时,CNN方法相较于BP网络方法在网络权值数量、训练稳定性、诊断准确率上的量化优势。结果表明,基于CNN的方法可在权值数量远少于BP网络方法的情况下构建深度更深的诊断模型,并在更短样本时长、更少训练样本数量下实现高效、准确的开路故障诊断。     

基于C3D辅助的战场传感器监视系统设计与实现

首先介绍了战场传感器监视系统的定义和各国现有典型系统。其次针对战场监视特殊的应用环境,利用C3D辅助技术,将相对定位与基于三维地图环境下的绝对定位相结合,通过坐标转换和地图匹配将位置信息直观准确反映在电子地图上,设计了基于C3D辅助的战场传感器监视系统,并对该系统进行了实现。最后通过对3D-MDS(C,D)定位算法的验证结果表明,在长1000m×7m宽的道路上,布撒120个节点,对于速度为3m/s的装甲车定位误差仅为2.1687米。该系统可对定位算法的定位精度进行评测及误差进行修正,防止由于误差累积造成误差放大。     

电路分块与D算法在电路板故障诊断中的应用

针对数字电路板故障诊断中测试码生成效率低,提出了电路分块与D算法结合生成测试码的方法。合理分块后的电路,使得D算法生成测试码变得容易和快速,并且生成测试码的数量也有一定的减少。最后,将此诊断方法应用于某坦克控制系统的输出板故障诊断,结果表明此方法能快速地生成故障测试码,实现电路板故障检测。     

基于有限资源并行测试任务调度研究

针对基于有限资源并行测试任务调度困难、资源配置不合理、测试效率低下问题,提出一种并行任务调度优化算法,以蚁群算法为基础,在求得必须进行串行测试任务测试时间前提下,将可并行测试任务根据测试任务间约束关系和测试资源约束关系,合理安排在串行测试区间里,从而获得完成所有测试任务最短测试时间的任务调度序列.仿真结果表明,与自适应...     

基于全局时态逻辑(GTL)的验证和测试生成研究

基于时态逻辑,定义了标准的逻辑操作公式、公理和扩展定理。根据测试生成和验证所要求的初始特性,提出了全局时态逻辑（Global Temporal Logic）GTL,避免了验证和测试中的回溯问题,从而提高验证和测试的效率。另外根据电路节点的扇入和扇出特性,介绍了利用时序线等启发知识来提高搜索策略的方法。     

基于体绘制的圆柱体构件缺陷三维重构方法

针对圆柱体构件内部缺陷问题,以超声检测技术为手段,采用体绘制三维重构技术,对构件内部缺陷进行三维重构。首先对圆柱体进行超声检测,并根据采集到的数据提取出其每一个截面的完整信息。然后进行B扫描成像,对成像图像像素点重组。最后利用体绘制技术对缺陷进行三维重构。结果证明,该方法重构出圆柱体构件中心孔、偏心孔缺陷效果良好,与实际构件相吻合,且大小误差在允许范围内。     

基于免疫粒子群文化算法的数字电路故障诊断

为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。     

论软件缺陷

软件的缺陷是软件质量的重要因素之一,低缺陷密度的软件是高质量软件的必要条件。软件的缺陷是不可避免的,统计表明,经过PSP训练的软件工程师平均引入的缺陷密度为50个缺陷/kLOC。通过对软件缺陷概念及分类、产生缺陷的原因及如何避免产生缺陷、缺陷排除的分析和软件缺陷与软件故障率之间的关系的研究,探讨了如何研制低缺陷密度的软件。     

如何改善路径测试用例生成的搜索算法

软件结构测试数据生成一直是软件测试领域一个较为复杂的问题,方法和手段尚未成熟。基于程序直接执行的测试数据生成方法因其动态性,显示出一定的优越性,本文主要针对该方法的核心部分——搜索算法进行讨论,探讨了有助于改善其功能的若干手段,目的在于提高算法效率,提高其实用化程度,显示出较好的实验效果。     

基于决策树的空中目标威胁分类研究

将决策树ID3算法应用到空中目标威胁程度分类问题。分析了现有威胁评估的常用方法及其局限性,论述了ID3算法在此问题上的适用性。以28批典型目标的威胁程度为例,对数据进行概化处理后,利用weka平台进行仿真,构造决策树,并从中挖掘出隐含的24条规则,这对决策支持系统知识库的构建是非常必要的,也为指挥员定下作战决心提供重要参考。     

针对SCPS-NP的协议分析方法

描述了卫星通信协议中网络层协议SCPS-NP的基本结构,阐述了BM算法与ID3算法原理,提出了一种新的针对空间传输协议的有效分析方法———NP-BM-ID3算法,并通过仿真实验进行验证。实验结果表明：通过将原有的数据集分类,该算法不仅有效地解决了模式串长度不足问题,而且减少了规则总数,在条件属性数量不变的情况下降低了运算复杂度。     

基于遗传算法的结构测试数据自动生成

生成测试数据是软件测试的主要过程,将遗传算法引入到测试数据的自动生成中,重点介绍其生成过程,并对遗传操作进行改进,在一定程度上降低算法的过早收敛性.最后构建出基于遗传算法的测试数据生成模型.并用实例证明算法的高效性.