共查询到18条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
透明栅控SOI薄膜横向PIN光电探测器,是一种以SOI技术和互补金属氯化物半导体工艺为基础,综合SOI器件和传统双极、场效应光敏器件的新型光电探测器。利用半导体器件物理和基本方程,介绍和分析了器件结构及其工作原理,建立电压、电流物理模型。应用SILVACO器件仿真软件,完成器件的数值模拟与验证。在中短波长工作段,器件光电流随栅极电压的增大而增大,表现出明显的栅压控制特性。全耗尽状态下,器件的内部量子效率在中短波长(400nm,450nm,530nm,600nm)的光辐射下,可达到96%以上,甚至接近100%。短波长下(280nm,350nm),量子效率最大值近80%。此外,器件的暗电流很低,光暗电流之比超过106,具有高灵敏度。 相似文献
2.
基于 3D-TCAD 模拟,研究了 22 nm 全耗尽型绝缘体上硅(fully depleted silicon-on-insulator,FDSOI)器件单粒子瞬态(single-event transient,SET)效应的敏感性区域.对比了使用单管和使用反相器来研究器件SET敏感性区域的方法,从而分析实际电路中重离子轰击位置对22 nm FDSOI器件SET敏感性的影响,并从电荷收集机制的角度进行了解释.深入分析发现寄生双极放大效应对重粒子轰击位置敏感是造成器件不同区域SET敏感性不同的原因.而单管漏极接恒压源造成漏极敏感性增强是导致单管与反相器中器件SET敏感区域不同的原因.修正了FDSOI工艺下器件SET敏感性区域的研究方法,与单管相比,采用反相器进行仿真,结果更符合实际情况,这将为器件SET加固提供理论指导. 相似文献
3.
4.
谢桂海 《军械工程学院学报》1989,(1)
本文论述了采用程序控制法,完成镀液主元离子浓度最优控制的设计思想、设计步骤和实现方法,并给出了具体设计实例和程序框图。按本文介绍的方法设计的“电镀工艺过程微机控制系统”,已在一些厂家试用。结果表明:镀层质量和电镀效率有很大提高,具有明显的经济效益和社会效益。 相似文献
5.
SOC是在一个单芯片上集成各项控制功能的片上微系统,是解决航天控制系统高集成和小型化的有效手段,是航天控制系统设计技术发展的一个重要方向.介绍了片上系统(SOC)技术的概念、优点和国内外发展现状,提出了一个航天控制领域(SOC)设计流程,以及后续发展重点和思路. 相似文献
6.
从垂直腔激光器阵列到光纤阵列的高效耦合一直是高速有源光缆制备过程中的挑战.基于界面光波传输的相位匹配,根据界面的折射率的分布及波动传输方程,设计了41 °转向角度的微反射镜.基于各向异性晶体蚀刻仿真,得到具有特定晶体取向的硅基微结构.在研究制备工艺的方法中,通过在含异丙醇有机添加剂的氢氧化钾溶液中硅各向异性湿法蚀刻制备... 相似文献
7.
8.
设计质量评审是军品项目开发过程中的一项重要活动,本文以GJB 9001A-2001的要求为出发点,从产品设计质量评审的意义、产品设计阶段的划分及内容、目前设计评审中存在的问题及影响等方面探讨产品设计质量评审的控制要求,着重提出了加强设计质量评审的实效性控制措施;进一步提高军品科研项目设计质量评审效果。 相似文献
9.
提出了一种直接针对设计参数不确定性描述的鲁棒控制器设计方法,并将该方法的研究和多学科设计优化方法的研究结合起来,实现了控制学科在设计回路的多学科设计优化。以某无尾布局微型飞行器为例开展了气动、控制学科的并行设计优化研究,说明了该方法的可行性。 相似文献
10.
11.
为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。 相似文献
12.
13.
14.
基于半定制集成电路设计流程,提出一种对CMOS集成电路进行电磁信息泄漏评估的方法。该方法首先利用综合工具生成电路的门级网表,将门级网表中的普通单元替换为防护逻辑单元,然后利用电磁辐射仿真模型和电磁信息泄漏评估模型对集成电路进行电磁辐射仿真和信息泄漏分析。该方法能够在设计阶段对密码芯片的抗电磁旁路攻击能力进行评估,可提高密码芯片的设计效率,减少资源浪费。 相似文献
15.
16.
可编程控制器直流调速系统通信监控 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了 S I E M E N S可编程控制器与具有通信功能的直流调速器之间的通信控制,通过对系统的硬件配置、控制方式、通信软件实现介绍,给出了应用 P L C进行直流调速器串行通信监控的方法。 相似文献
17.
18.
王炜 《中国人民武装警察部队学院学报》1999,(6)
Y2K(计算机2000年问题)的解决现在已迫在眉睫,文章在讲述 Y2K的产生及其危害的前提下,提出了Y2K的测试及解决办法,并阐述了我国目前在Y2K问题上的工作及成果。 相似文献