稳瞄与惯导组合系统电子产品可靠性综合分析

研究了新型稳瞄与惯性导航组合系统电子产品的可靠性综合分析方法,并给出电子产品分系统的可靠性分析模型.根据电子产品可靠性参数的验前信息以及无失效寿命数据,给出"无失效,小子样"情形的可靠性综合分析方法.该方法计算简便,结合组合系统实际情况,具有重要的工程实际意义.     

弯曲载荷作用下复合材料T型接头的失效分析

运用蔡-吴逐步失效判据和黏聚接触模型建立弯曲加载下的T型接头的有限元模型。对复合材料T型接头在弯曲加载下的损伤机理和承载能力进行数值模拟。结合静态弯曲加载实验,揭示T型接头在弯曲破坏过程中的四种失效模式。T型接头的弯曲失效载荷的有限元模型计算结果与实测值吻合较好。     

基于竞争失效建模的导弹贮存寿命评估方法

为了提高导弹贮存寿命估计的准确性,提出了一种基于退化失效与突发失效竞争的导弹贮存寿命估计方法。基于建模假设,建立导弹竞争失效模型;采用赤池信息准则(AIC)来确定导弹退化过程的最优随机过程模型,进而建立其退化失效模型;采用威布尔分布和比例危险模型,建立基于退化量影响的突发失效模型;采用极大似然估计算法,求解模型未知参数。结合实例分析,验证了所建模型的正确性和优势。     

基于竞争失效的产品可靠性评估

为深入研究产品部件的可靠性,构建了竞争失效模型。基于退化失效和冲击失效的关联性建立竞争失效模型,在此基础上推导出产品的可靠度分析模型;引入Gamma过程对自然退化失效过程建模,通过退化增量描述随机冲击对自然退化的影响;引入Poisson过程对随机冲击失效过程建模,通过失效阈值的递减描述自然退化对随机冲击的影响;以具有退化失效和冲击失效特点的防滑刹车控制盒为对象,进行了可靠性对比分析,验证了竞争失效模型的合理性和有效性,为产品部件的可靠性评估提供了一种新的思路。     

水下接触爆炸下液舱前置型防雷舱的动响应分析

为探讨防雷舱结构设计,采用有限元方法对同一防雷舱结构的典型模式和液舱前置模式进行数值仿真计算,通过对典型模式与实验结果的对比,验证了数值计算方法的有效性。着重分析了液舱前置对防雷舱结构动响应过程、失效模式及防护效能的影响,并分析了其形成机制。从结构破坏过程、载荷特性、吸能特性三个方面对比了两种模式的差异,探讨了两种模式防雷舱结构的防护机理,为舰船水下舷侧防护结构的工程设计提供了参考。     

基于区域定位重要度指标的GPS失效性分析

空间几何构型是决定GPS定位精度的关键因素之一。采用概率统计的思想,基于区域定位重要度指标算法,通过分析计算不同空间几何构型的几何精度系数,寻求对区域定位精度影响最大的卫星构型。在此基础上对GPS卫星进行重要度排序,并对GPS星座失效性进行分析。结果表明:此方法能有效找出对区域定位精度影响最大的卫星构型,并且避免了大规模仿真计算,快捷有效。     

2009年军工企业产品质量控制及失效分析技术论坛圆满结束

2009年4月27日，来自全国军工行业相关的企事业单位和民品企业近70名代表参加了由中国兵器工业标准化研究所和北京机械工程学会材料分会召开的技术论坛会议。     

一种改进的旋转CRC数据校验设计方法

旋转CRC同时使用两个生成多项式产生校验数据。之前的方法校验能力弱,报文丢失后的检错失效率很高。提出了一种新的旋转CRC设计方法,通过比较,选取合适的更高次的生成多项式组合,并且修改了检验生成与检测机制,形成MR-CRC。FPGA实现结果表明,这种方法能够在较低逻辑复杂度的基础上提高校验能力,从而改善数据通信的可靠性,而且对系统性能影响甚小。通过比较16位MR-CRC与32位传统CRC的实现数据发现,前者在所用资源减少10%的情况下,频率提高了25%。     

状态可靠性的装备视情维修决策分析

针对连续劣化的多设备系统在不同劣化水平下都可能发生失效,依据设备实际劣化状态评定可靠性的思想,提出运用状态可靠性理论刻画设备或部件的劣化水平与随机故障之间的关系,可对设备实际劣化状态进行可靠性评定,适用于表征同类设备或部件的不同个体在不同的工作负荷和工作环境下经历不同的劣化过程后的不同可靠性指标,反映了连续劣化系统的随...     

金属类MEMS器件可靠性试验技术研究

针对金属类MEMS机构可靠性水平较低且没有标准化的可靠性试验方法的现状,提出将强化试验方法引入金属类MEMS机构的可靠性研究中．确定强化试验的内容为温度循环、随机振动和冲击试验,并分别设计试验剖面．选取MEMS惯性开关作为典型器件开展试验研究,试验结果表明,所设计的可靠性试验能够有效激发MEMS机构的潜在缺陷,温度应力易引起MEMS器件层间产生疲劳效应,而振动和冲击应力则易引发器件结构性损坏;环境应力对MEMS机构具有疲劳累积效应,经历较多试验类型的样本较经历较少试验类型的样本更容易失效;惯性开关的主要失效模式是分层和变形,这2种失效模式在金属类MEMS机构中具有代表性．