全文获取类型
收费全文 | 221篇 |
免费 | 36篇 |
国内免费 | 3篇 |
出版年
2023年 | 1篇 |
2022年 | 2篇 |
2021年 | 3篇 |
2020年 | 6篇 |
2019年 | 6篇 |
2018年 | 1篇 |
2017年 | 7篇 |
2016年 | 11篇 |
2015年 | 9篇 |
2014年 | 9篇 |
2013年 | 14篇 |
2012年 | 9篇 |
2011年 | 11篇 |
2010年 | 9篇 |
2009年 | 23篇 |
2008年 | 14篇 |
2007年 | 5篇 |
2006年 | 18篇 |
2005年 | 13篇 |
2004年 | 20篇 |
2003年 | 7篇 |
2002年 | 15篇 |
2001年 | 11篇 |
2000年 | 4篇 |
1999年 | 4篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 4篇 |
1996年 | 2篇 |
1995年 | 3篇 |
1994年 | 2篇 |
1993年 | 3篇 |
1992年 | 3篇 |
1991年 | 6篇 |
1990年 | 1篇 |
排序方式: 共有260条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
空化射流降解毒性有机物实验研究 总被引:6,自引:0,他引:6
利用空泡溃灭局部产生的高温高压、强压力脉冲和微射流,可对大分子有机物进行降解。将空化效应引入高压水射流形成空化射流可对毒性有机污染物进行降解。分析了空泡溃灭过程的物理化学效应,研究了空化射流降解苯酚的机理,设计了空化射流实验装置,对配制的苯酚溶液进行了不同实验条件下的空化射流降解对比实验,采用高效液相色谱法测定采集样品的苯酚质量浓度,对实验效果进行对比分析。实验结果表明:空化射流对苯酚降解有效,空化射流降解实验存在最优喷嘴入口压力和最优靶距。 相似文献
2.
针对热障涂层结构材料红外定量检测存在的不足,提出基于脉冲相位的LM(LevenbergMarquardt)识别算法。针对研究问题,建立了轴对称圆柱坐标下热障涂层结构材料的瞬态导热模型,利用有限体积法计算出检测表面的温度场,经快速傅里叶变换得到检测表面的相位分布,分析待检测参数对检测表面相位差的影响。以相位为识别条件,采用LM反演算法对热障涂层厚度及其涂敷下材料内部缺陷位置大小进行定量识别,并采用数值实验方法验证了基于相位的LM识别方法的有效性。 相似文献
3.
针对传统弹丸速度测量方法的局限,提出一种新的弹丸速度测试技术——数字化激光幕结合互相关速度测量算法的测试技术,并给出了激光总体测速方案、测速原理以及互相关测速方法,经靶场试验验证测试效果良好。 相似文献
4.
5.
加速寿命试验(ALT)可在较短时间内获得产品的寿命及可靠性信息.利用ALT对产品的剩余寿命进行评估时,常常将已工作过的产品进行抽样并投入试验,在这一类样本的ALT数据统计分析时如何处理初始工作时间,成为ALT应用中的一个重要问题.工程实际中评估此类样本的剩余寿命时常常忽略初始工作时间,将其视为"用后如新"或"无记忆性"产品.但此假设必须以产品寿命服从指数分布为前提,而大部分机电产品的寿命服从Weibull分布,因而该方法在应用时必然会产生较大误差.针对这一问题提出了一种新的基于时间折算的ALT数据统计分析方法,并利用Monte Carlo仿真对其估计特性进行对比研究,结果表明此方法能有效评估存在初始工作历程产品的剩余寿命,估计精度优于原方法. 相似文献
6.
将电枢加速到较高速度,通常需要多级感应线圈连续加速;而提高多级感应线圈发射器的发射效率,则要求在电枢处于驱动线圈最佳触发位置时,电容器组同步放电。同时,需要采集发射过程中电枢的速度、电源的放电电压和放电电流等数据。因此,研制合理的测控系统是多级感应线圈发射器的关键。 相似文献
7.
8.
Today, many products are designed and manufactured to function for a long period of time before they fail. Determining product reliability is a great challenge to manufacturers of highly reliable products with only a relatively short period of time available for internal life testing. In particular, it may be difficult to determine optimal burn‐in parameters and characterize the residual life distribution. A promising alternative is to use data on a quality characteristic (QC) whose degradation over time can be related to product failure. Typically, product failure corresponds to the first passage time of the degradation path beyond a critical value. If degradation paths can be modeled properly, one can predict failure time and determine the life distribution without actually observing failures. In this paper, we first use a Wiener process to describe the continuous degradation path of the quality characteristic of the product. A Wiener process allows nonconstant variance and nonzero correlation among data collected at different time points. We propose a decision rule for classifying a unit as normal or weak, and give an economic model for determining the optimal termination time and other parameters of a burn‐in test. Next, we propose a method for assessing the product's lifetime distribution of the passed units. The proposed methodologies are all based only on the product's initial observed degradation data. Finally, an example of an electronic product, namely contact image scanner (CIS), is used to illustrate the proposed procedure. © 2002 Wiley Periodicals, Inc. Naval Research Logistics, 2003 相似文献
9.
Estimating failure time distribution and its parameters based on intermediate data from a Wiener degradation model 总被引:1,自引:0,他引:1
Instead of measuring a Wiener degradation or performance process at predetermined time points to track degradation or performance of a product for estimating its lifetime, we propose to obtain the first‐passage times of the process over certain nonfailure thresholds. Based on only these intermediate data, we obtain the uniformly minimum variance unbiased estimator and uniformly most accurate confidence interval for the mean lifetime. For estimating the lifetime distribution function, we propose a modified maximum likelihood estimator and a new estimator and prove that, by increasing the sample size of the intermediate data, these estimators and the above‐mentioned estimator of the mean lifetime can achieve the same levels of accuracy as the estimators assuming one has failure times. Thus, our method of using only intermediate data is useful for highly reliable products when their failure times are difficult to obtain. Furthermore, we show that the proposed new estimator of the lifetime distribution function is more accurate than the standard and modified maximum likelihood estimators. We also obtain approximate confidence intervals for the lifetime distribution function and its percentiles. Finally, we use light‐emitting diodes as an example to illustrate our method and demonstrate how to validate the Wiener assumption during the testing. © 2008 Wiley Periodicals, Inc. Naval Research Logistics, 2008 相似文献
10.