加强约束的布尔可满足硬件求解器

利用现场可编程门阵列固有的并行性和灵活性,提出在硬件可编程平台上基于随机局部搜索算法的布尔可满足性求解器,用于求解大规模的布尔可满足性问题。相对其他求解器,该求解器的预处理技术能极大提高求解效率;其变元加强策略避免了同一变元被反复连续翻转,降低了搜索陷入局部最优的可能。评估结果表明,求解器最多能处理32 000个变元/128 000个子句的实例。相比当前同类型的求解器,其求解效率明显提高。     

布尔函数的Walsh谱绝对值分布及其性质研究

提出并研究了布尔函数的Walsh谱绝对值分布.指出布尔函数Walsh谱绝对值分布在仿射变换下的不变性,计算了n(n≤5)元布尔函数的Walsh谱绝对值分布,研究了Walsh谱绝对值分布与Walsh谱支撑和Walsh谱中非零取值个数以及其他一些密码学难题的联系,最后研究了布尔函数的Walsh谱绝对值分布的大小.     

关于Tu-Deng函数的一个注记

2009年,Tu和Deng在一个组合猜想成立的基础上,构造了同时具有最优代数免疫性、最优代数次数和高非线性度的一类偶数元布尔函数.这类函数被称为Tu-Deng函数.基于同一猜想,Tu和Deng又构造了同时具有次最优代数免疫性、最优代数次数和较高非线性度的一类偶数元的l -阶弹性函数.通过研究由Tu-Deng函数导出的两个布尔函数的级联的密码学性质,在Tu-Deng猜想成立的基础上,给出一类奇数元的1 -阶弹性布尔函数.这类函数同时具有次最优代数免疫性、最优代数次数和较高非线性度.     

密码学中的布尔函数研究综述

概述了目前密码学中布尔函数的研究现状和重要研究方向上的新成果,并对布尔函数的研究进行了展望,指出了一些重要的研究热点问题.     

边界扫描测试的数学描述模型

IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计的有效方法,为了高效地应用边界扫描机制对电路系统进行测试,必须对其所涉及的理论方法进行深入探讨。本文应用布尔矩阵理论建立起边界扫描测试的数学描述模型,并基于所建立的模型导出了边界扫描测试中的故障检测条件和故障隔离条件。为边界扫描测试生成算法的深入研究奠定了理论基础。     

应用不可满足子式的解码电路综合优化方法

解释布尔公式不可满足的原因在很多领域都具有实际的应用需求,而最小不可满足子式能够为诸如电路的自动综合等应用领域中的不可满足原因提供最精确的解释。因此,将两种能够高效求解最小不可满足子式的算法——分支-限界算法与贪心遗传算法,集成到解码电路的自动综合工具中。采用通信领域的标准编码电路作为测试集,将两种算法进行对比。实验结果表明,在运行时间与每秒剔除的短句数方面,贪心遗传算法优于分支-限界算法;不可满足子式在解码电路的自动综合过程中发挥重要作用。     

求解布尔不可满足子式的消解悖论算法

求解布尔不可满足子式在超大规模集成电路设计与验证领域都具有非常重要的理论与应用价值,帮助EDA工具迅速定位错误与不一致。针对求解不可满足子式的非完全方法,提出了消解悖论与悖论解析树的概念,在此基础上提出一种启发式局部搜索算法。该算法根据公式的消解规则,采用局部搜索过程直接构造证明不可满足性的悖论解析树,而后递归搜索得到不可满足子式;算法中融合了布尔推理技术、动态剪枝方法及蕴含消除方法以提高搜索效率。基于随机测试集进行了实验对比,结果表明提出的算法优于同类算法。     

偶变元MAI旋转对称布尔函数

代数免疫度是布尔函数的一个重要密码学指标.给出了具有最大代数免疫度的偶数元旋转对称布尔函数的两种构造方法.进一步地,研究了特殊情形时所构造的旋转对称布尔函数的非线性度,当n≥18时,构造3得到的MAI旋转对称布尔函数的非线性度优于已知构造的偶数元MAI旋转对称布尔函数的非线性度.     

基于SAT的电路错误定位方法研究进展

随着VLSI芯片复杂度不断增加,功能验证与调试已占到整个芯片设计周期的60%以上。而错误的定位往往消耗大量的时间与精力,因此迫切需要一种高效的方法诊断与定位电路中的错误。针对近年来出现的许多电路错误定位方法,介绍了电路错误诊断方法的分类与工作流程,深入分析了基于SAT的错误定位方法的基本原理;对各种算法进行了概述评论,并简要介绍了在不可满足子式求解方面所做的一些研究工作,而不可满足子式能够显著提高错误定位效率与精度;讨论了电路错误定位技术所面临的主要挑战,并对今后的研究方向进行了展望。