|
|||||
|
|
| 智能理论在BIT设计与故障诊断中的应用 | |
| 作者姓名： | 温熙森 徐永成 易晓山 |
| 作者单位： | 国防科技大学机电工程与仪器系 |
| 摘 要： | 近２０年来机内测试（ＢＩＴ）技术从理论到应用取得了显著进展,已成为提高产品测试性和诊断能力的有效途径。本文概述了ＢＩＴ技术的特点,分析了国内外ＢＩＴ的发展趋势,对ＢＩＴ智能化从系统设计、信息处理到综合决策各阶段进行概括,对专家系统、神经网络、模糊理论、信息融合等智能理论在ＢＩＴ中的应用进行了综合分析,并初步建立智能ＢＩＴ的理论框架 |
| 关 键 词： | 机内测试 人工智能 测试性 神经网络 |
| 收稿时间： | 1998-04-28 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《国防科技大学学报》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《国防科技大学学报》下载免费的PDF全文 | |