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| 基于IC质量等级提高电子元器件可靠性的方法 | |
| 引用本文： | 高志远,杨冬.基于IC质量等级提高电子元器件可靠性的方法[J].国防技术基础,2005(5). |
| 作者姓名： | 高志远 杨冬 |
| 作者单位： | 空军驻京津地区军代室 工程师 |
| 摘 要： | 随着科技的发展,电子元器件在航空、航天领域的应用越来越广泛。近期,特别是当前国家重点型号的研制过程中,大量使用新型、新研电子元器件,已经成为装备的一个组成部分,电子元器件的质量已经与装备的安危密切相关并引起了各方人士的重视。一个电气系统就是由各种基础产品(各种元器件)构成的。由于电子元器件的数量、品种众多,其性能、可靠性、费用等参数对整个系统性能、可靠性、寿命周期费用等技术指标的影响极大。例如:某型导弹的惯导系统在进行振动试验的过程中,陀螺电源信号发生器的波形出现抖动,针对这一故障,研制单位进行了一系列的试… |
Methods on How to Rise Reliability of Electron Elements according to IC Quality Grade |
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