微处理器的功能测试

本文概要介绍一种新而系统的方法来产生微处理器的测试。采用了微处理器功能级模型,并用一个简图描述。讨论了指令执行过程的一种新的综合模型。对各种故障类型进行了分析,说明了使用合适的代码字,能把指令执行过程的故障分成三类。给出了检测微处理器故障的测试程序,测试首先是对读寄存器指令,然后对其余指令进行。这些测试能通过微处理器以自测试方式实现,因此,可以不用外部测试仪器。