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| 高功率电磁环境下C~4ISR系统接口电路的阈值实验 | |
| 作者姓名： | 陶灵姣 吕承立 蔡士林 李智 柴焱杰 |
| 作者单位： | 1.第二炮兵工程学院;2.第二炮兵装备研究院 |
| 基金项目： | "十一五"国防预研基金资助项目 |
| 摘 要： | 采用非接触式电流脉冲注入法,设计了一种通用的接口电路实验模型和测试软件,进行了高功率电磁脉冲对指控系统接口电路的注入损伤实验,测量接口电路耦合电压和耦合电流,并对实验结果进行了分析。实验表明,强电磁能量耦合到电子装备和电气设备内部,可在其接口电路上产生过电压或过电流,从而使设备受到干扰和损伤。 |
| 关 键 词： | 电磁脉冲 接口电路 耦合 敏感性 损伤 |
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