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X射线透视对MOS电容性能的影响
引用本文:
李斌.X射线透视对MOS电容性能的影响[J].空军电讯工程学院学报,1999,8(4):64-66.
作者姓名:
李斌
作者单位:
基础部
摘 要:
利用SOFRONBST-1505C型X光机,对三种MOS电参0、28受X射线照射后的平带电压的漂移量进行测试和分析,从而分析X射一辐射后对MOS电容器件的影响。
关 键 词:
X射线
MOS电容
电子元器件
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