| 成败型产品一次抽样检验方案研究 |
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| 引用本文： | 李根成.成败型产品一次抽样检验方案研究[J].国防技术基础,2008(2):27-30. |
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| 作者姓名： | 李根成 |
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| 作者单位： | 中国空空导弹研究院 河南省洛阳市030信箱65分箱 |
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| 摘 要： | 首先推导出了同时能满足检验上限、检验下限、生产方风险、使用方风险要求的一次抽样检验方案设计公式，并用GB/T 5080.5-1985中的数据验证了公式的正确性。之后推论出了同一产品在不同试验方案的鉴定结果可能完全相反。最后建议，应在鉴定试验前尽可能知晓产品的可靠性水平，从而可有目的地选择或设计试验方案，以求产品高概率通过鉴定试验。
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| 关 键 词： | 可靠性 抽样检验 抽检特性函数 生产方风险 使用方风险 |
The Success or Failure of a Sample Testing Products Research Programme |
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| Li Gencheng.The Success or Failure of a Sample Testing Products Research Programme[J].Technology Foundation of National Defence,2008(2):27-30. |
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| Authors: | Li Gencheng |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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