首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
   检索      

GB/T 1185《光学零件表面疵病》与俄、美相关标准对比分析
引用本文:刘庆明,盛益鹏.GB/T 1185《光学零件表面疵病》与俄、美相关标准对比分析[J].国防技术基础,2007(8).
作者姓名:刘庆明  盛益鹏
作者单位:中国兵器工业集团公司第5308厂 江苏省扬州市110信箱邮编:225009
摘    要:本文就我国国家标准《光学零件表面疵病》与俄罗斯相关标准及美国军用相关标准进行对比、分析。就这三个国家(军)同类基础标准的标注方法、麻点、擦痕、表面疵病密集和检验方法进行对比、分析。仅供读者参考。

关 键 词:标准  表面疵病

Comparison and Analysis of "GB/T 1185 Optical Surface Flaws" Standards Between China,Russia and the United States
Liu Qingming,Sheng Yipeng.Comparison and Analysis of "GB/T 1185 Optical Surface Flaws" Standards Between China,Russia and the United States[J].Technology Foundation of National Defence,2007(8).
Authors:Liu Qingming  Sheng Yipeng
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号