| 基于边界扫描的簇测试系统设计 |
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| 引用本文： | 陈圣俭,陈健,徐磊.基于边界扫描的簇测试系统设计[J].装甲兵工程学院学报,2008,22(1):53-57. |
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| 作者姓名： | 陈圣俭 陈健 徐磊 |
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| 作者单位： | 装甲兵工程学院,控制工程系,北京,100072 |
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| 摘 要： | 在对边界扫描及簇测试技术研究的基础上,以边界扫描测试总线控制器芯片为核心设计实现了一个簇测试系统,选择W-A的GNS算法对所设计的测试系统进行了簇测试实例验证.实验结果表明,该测试系统能够快速准确地检测出被测系统的固定逻辑故障和短路故障.
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| 关 键 词： | 边界扫描 簇测试 W-A的GNS算法 边界扫描 簇测试 系统设计 Technology Scan Boundary Based Test System Cluster 短路故障 逻辑故障 固定 被测系统 检测 快速 结果 实验 实例验证 算法 选择 |
| 文章编号： | 1672-1497(2008)01-0053-05 |
| 修稿时间： | 2007年10月15 |
Design of Cluster Test System Based on Boundary Scan Technology |
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| CHEN Sheng-jian,CHEN Jian,XU Lei.Design of Cluster Test System Based on Boundary Scan Technology[J].Journal of Armored Force Engineering Institute,2008,22(1):53-57. |
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| Authors: | CHEN Sheng-jian CHEN Jian XU Lei |
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