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| 射击精度小样本检验理论和方法应用研究初探 | |
| 作者姓名： | 潘高田 潘峰 王晖 |
| 作者单位： | 1. 装甲兵工程学院,北京,100072 2. 南洋理工大学,新加坡 |
| 摘 要： | 给出了多维正态分布与x2分布的概率性质,讨论了在小样本检验中如何检验同方差的二维正态分布的方差问题.给出了检验中所涉及到的拒真和纳伪概率的重要物理参数和OC曲线.该结论在武器装备小样本检验中具有重要的意义. |
| 关 键 词： | 多维正态分布 假设检验 统计量 OC曲线 |
| 文章编号： | 1672-1497(2004)03-0035-03 |
| 修稿时间： | 2004-07-05 |
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