小子样条件下基于Normal-Poisson过程的性能可靠性评定 |
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作者姓名: | 张永强 刘琦 周经伦 |
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作者单位: | 国防科技大学,信息系统与管理学院,湖南,长沙,410073;北京跟踪与通信技术研究所,北京,100094;国防科技大学,信息系统与管理学院,湖南,长沙,410073 |
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摘 要: | 对于高可靠、长寿命产品,基于性能退化数据分析可靠性是一种行之有效的技术途径。结合航空航天产品性能退化的机理与现场试验小子样的特点,建立了基于Normal-Poisson过程的性能退化模型。论文在对产品性能退化建模的基础上,结合Bayes方法给出了退化模型参数的估计算法和可靠性推断的公式,最后结合实例说明了方法的有效性。
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关 键 词: | 航空航天 Normal-Poisson过程 Bayes 性能可靠性 |
文章编号: | 1001-2486(2006)03-0128-05 |
收稿时间: | 2005-12-06 |
修稿时间: | 2005-12-06 |
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