| 静电放电对微机接口电路干扰效应研究 |
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| 引用本文： | 张希军,阮晓芬,武占成,宋文武.静电放电对微机接口电路干扰效应研究[J].军械工程学院学报,2005,17(3):5-7. |
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| 作者姓名： | 张希军 阮晓芬 武占成 宋文武 |
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| 作者单位： | 军械工程学院静电与电磁防护研究所，海军工程大学电子工程学院，军械工程学院静电与电磁防护研究所，国防科技电磁兼容性重点实验室 河北石家庄050003，河北石家庄050003，湖北武汉430033 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点资助项目(50237040)，国防科技电磁兼容性重点实验室资助项目(51447020304JB3401) |
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| 摘 要： | 为研究静电放电(ESD)对微机接口电路的干扰效应,设计了一种单片机系统串行数据传输电路试验模型。利用静电放电模拟器对自行设计的单片机系统进行了效应试验,并对测得的试验数据进行了分析,得出了这类典型串口通讯在静电放电环境下的一些规律。
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| 关 键 词： | 静电放电 干扰效应 单片机系统 |
| 文章编号： | 1008-2956(2005)03-0005-03 |
| 修稿时间： | 2005年1月17日 |
Study on ESD Interference Effects on Interface of Microcomputer |
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| ZHANG Xi-jun,RUAN Xiao-fen,WU Zhan-cheng,SONG Wen-wu.Study on ESD Interference Effects on Interface of Microcomputer[J].Journal of Ordnance Engineering College,2005,17(3):5-7. |
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| Authors: | ZHANG Xi-jun RUAN Xiao-fen WU Zhan-cheng SONG Wen-wu |
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| Institution: | ZHANG Xi-jun~1,RUAN Xiao-fen~2,WU Zhan-cheng~1,SONG Wen-wu~3 |
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| Abstract: | In this paper,a typical single-chip circuit is designed to simulate serial communication interface in order to study the effect of ESD on interface of microcomputer.Using an ESD generator,the effect experiments of ESD to the single chip microprocessor (SCM) system have been carried out.By analyzing the experiment data,some rules of the typical serial communication circuit under ESD are presented. |
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| Keywords: | ESD interference effects SCM system |
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