| 用于静电放电EMP实验的三模冗余技术 |
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| 引用本文： | 刘文冰,刘尚合,原亮.用于静电放电EMP实验的三模冗余技术[J].军械工程学院学报,2006,18(4):29-31. |
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| 作者姓名： | 刘文冰 刘尚合 原亮 |
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| 作者单位： | 军械工程学院静电与电磁防护研究所 河北石家庄050003 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点资助项目(50237040) |
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| 摘 要： | 通过对TMR(Trip le Modu lar Redundancy)容错技术的分析和研究,介绍了一种基于FPGA芯片的TMR整体“硬化”技术,并分别对采用了TMR技术的电机容错控制系统和未采用TMR技术的一般电机控制系统进行了ESD EMP的辐照效应实验,得出TMR技术可有效增强控制系统抗ESD EMP能力的结论。
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| 关 键 词： | TMR FPGA 容错运行 ESDEMP |
| 文章编号： | 1008-2956(2006)04-0029-03 |
| 修稿时间： | 2006年4月20日 |
TMR Technology in ESD EMP Experiment |
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| LIU Wen-bing,LIU Shang-he,YUAN Liang.TMR Technology in ESD EMP Experiment[J].Journal of Ordnance Engineering College,2006,18(4):29-31. |
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| Authors: | LIU Wen-bing LIU Shang-he YUAN Liang |
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| Abstract: | By studying and analyzing the TMR technology,the paper introduces a method of hardening the entire logic core into FPGA chips.ESD EMP irradiation effects experiments are taken separately based on the electromotor controlling systems with the TMR technology and without.The final conclusion is that the TMR technology can effectively improve the level of the tolerance against ESD EMP in the controlling system. |
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| Keywords: | TMR FPGA fault tolerance ESD EMP |
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