| 可测试性技术中的图论问题及其求解 |
| |
| 引用本文： | 胡政,黎琼炜,温熙森.可测试性技术中的图论问题及其求解[J].国防科技大学学报,2000,22(6):105-108. |
| |
| 作者姓名： | 胡政 黎琼炜 温熙森 |
| |
| 作者单位： | 国防科技大学机电工程与自动化学院,湖南,长沙,410073 |
| |
| 基金项目： | 国家部委项目资助!(19.6 .5 .2 ) |
| |
| 摘 要： | 近 2 0年来 ,为了解决结构日益复杂的电路测试问题 ,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中 ,针对不同的测试对象 ,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化 ,降低总体代价 ,是亟待解决的问题。为了解决这两类典型的优化问题 ,首先应用图论方法建立问题的拓扑描述模型 ,然后通过构造相应的逻辑求解函数 ,给出问题最优解的求解算法 ,并通过简单实例演
|
| 关 键 词： | 可测试性 优化 图论 算法 |
| 收稿时间： | 6/9/2000 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 2000-06-09 |
Two Topological Problems and Their Solutions in Testability |
| |
| HU Zheng,LI Qiongwei and WEN Xisen.Two Topological Problems and Their Solutions in Testability[J].Journal of National University of Defense Technology,2000,22(6):105-108. |
| |
| Authors: | HU Zheng LI Qiongwei and WEN Xisen |
| |
| Institution: | College of Mechatronics Engineering and Automation, National Univ. of Defense Technology, Changsha 410073, China;College of Mechatronics Engineering and Automation, National Univ. of Defense Technology, Changsha 410073, China;College of Mechatronics Engineering and Automation, National Univ. of Defense Technology, Changsha 410073, China |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | testability optimization topology algorithm| |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《国防科技大学学报》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《国防科技大学学报》下载免费的PDF全文 |
|
