首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
   检索      

基于边界扫描技术的装备电路可测性设计
引用本文:许四毛,邓小鹏.基于边界扫描技术的装备电路可测性设计[J].火力与指挥控制,2015(3):159-162.
作者姓名:许四毛  邓小鹏
作者单位:电子工程学院,合肥,230037
摘    要:随着装备中基于复杂数字电路的嵌入式系统应用越来越广泛,装备中电路系统的可测性设计(DFT)已成为装备可测试性设计的重要内容。IEEE 1149.1作为一种标准化的电路可测性设计方法,弥补了传统电路测试方法存在的缺陷,为复杂的互连电路提供了一种非入侵的测试手段。首先简述了可测试性设计和边界扫描测试技术的基本原理,并从边界扫描测试链设计、提高测试覆盖率和优化电路网络几个方面,分别提出了几种装备电子系统的电路可测试性设计的具体方法。

关 键 词:边界扫描技术  可测试性设计  JTAG接口  互连电路网络

Research of DFT of Equipment Circuiton Boundary-scan Technology
XU Si-mao,DENG Xiao-peng.Research of DFT of Equipment Circuiton Boundary-scan Technology[J].Fire Control & Command Control,2015(3):159-162.
Authors:XU Si-mao  DENG Xiao-peng
Institution:XU Si-mao;DENG Xiao-peng;Electronic Engineering Institute;
Abstract:
Keywords:boundary-scan technology  DFT  JTAG Interface  interconnection circuit network
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号