|
|||||
|
|
| 高功率电磁环境下C4ISR系统接口电路的阈值实验 | |
| 引用本文： | 陶灵姣,吕承立,蔡士林,李智,柴焱杰.高功率电磁环境下C4ISR系统接口电路的阈值实验[J].火力与指挥控制,2010,35(7). |
| 作者姓名： | 陶灵姣 吕承立 蔡士林 李智 柴焱杰 |
| 作者单位： | 1. 第二炮兵工程学院,西安,710025;第二炮兵装备研究院,北京,100085 2. 第二炮兵装备研究院,北京,100085 3. 第二炮兵工程学院,西安,710025 |
| 基金项目： | "十一五"国防预研基金资助项目 |
| 摘 要： | 采用非接触式电流脉冲注入法,设计了一种通用的接口电路实验模型和测试软件,进行了高功率电磁脉冲对指控系统接口电路的注入损伤实验,测量接口电路耦合电压和耦合电流,并对实验结果进行了分析.实验表明,强电磁能量耦合到电子装备和电气设备内部,可在其接口电路上产生过电压或过电流,从而使设备受到干扰和损伤. |
| 关 键 词： | 电磁脉冲 接口电路 耦合 敏感性 损伤 |
Threshold Value Experiment of C4ISR System Interface Circuit under High Power Electromagnetic Environment |
|
| TAO Ling-jiao,Lü Cheng-li,CAI Shi-lin,LI Zhi,CHAI Yan-jie.Threshold Value Experiment of C4ISR System Interface Circuit under High Power Electromagnetic Environment[J].Fire Control & Command Control,2010,35(7). | |
| Authors: | TAO Ling-jiao Lü Cheng-li CAI Shi-lin LI Zhi CHAI Yan-jie |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |