| 存储测试系统的可靠性分析 |
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| 引用本文： | 任鸿秋.存储测试系统的可靠性分析[J].火力与指挥控制,2008,33(4):146-148. |
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| 作者姓名： | 任鸿秋 |
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| 作者单位： | 太原理工大学电气与动力工程学院,山西,太原,030024 |
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| 摘 要： | 可靠性分析对提高系统的可靠性有着极其重要的意义.针对存储测试系统存在的失效现象,从半导体器件本身、焊接工艺和封装工艺进行了失效机理分析,提出了相应的改进措施.在此基础上,结合本系统的实际使用要求,提出了半导体器件的可靠性筛选规程.阐述内容对其他电路系统可靠性的提高也具有一定的参考价值.
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| 关 键 词： | 存储测试 失效机理 可靠性分析 |
| 文章编号： | 1002-0640(2008)04-0146-03 |
| 修稿时间： | 2007年1月15日 |
Reliability Analysis of Memory Test System |
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| REN Hong-qiu.Reliability Analysis of Memory Test System[J].Fire Control & Command Control,2008,33(4):146-148. |
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| Authors: | REN Hong-qiu |
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