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| BIT系统总体设计考虑 | |
| 引用本文： | 何德元.BIT系统总体设计考虑[J].现代防御技术,1991(2). |
| 作者姓名： | 何德元 |
| 摘 要： | 引 言 机内测试（BIT）的设计是一个复杂的过程。BIT（BUILT-IN-TEST） 的基本含意是:不用外部测试设备完成对故障的检测和隔离。根据其复杂程度,BIT的范围可包括:从用指示灯报告设备的电源接通,到利用系统固有的计算机产生测试激励信号,并对测试结果进行评定。BIT可以连续工作,也可以与其它操作交叉进行或通过命令来启动。它包括传感器和专用接口硬件,还包括错误校正码软件。装备系统BIT的特殊机理和使用方法是 |
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