| 组件单元失效下的相控阵雷达暴露区研究 |
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| 引用本文： | 周志增,刘洪亮,顾荣军,侯少岭.组件单元失效下的相控阵雷达暴露区研究[J].现代防御技术,2012,40(6). |
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| 作者姓名： | 周志增 刘洪亮 顾荣军 侯少岭 |
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| 作者单位： | 中国人民解放军63889部队,河南孟州,454750 |
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| 摘 要： | 相控阵雷达组件单元失效会引起副瓣电平和天线增益的恶化,失效单元超过一定数量会严重影响到雷达的性能.详细讨论了单元失效对雷达天线副瓣、增益以及目标信号相参积累的影响.同时,结合某相控阵雷达天线模型,对外界存在有源干扰时的雷达暴露区进行了仿真分析.可以看出,单元失效使雷达副瓣电平抬高,进而导致雷达暴露区明显缩小.
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| 关 键 词： | 相控阵雷达 副瓣电平 失效单元 雷达暴露区 |
Phased Array Radar Detection Area when Its Module's Element Fails |
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| ZHOU Zhi-zeng
,
LIU Hong-liang
,
GU Rong-jun
,
HOU Shao-ling.Phased Array Radar Detection Area when Its Module's Element Fails[J].Modern Defence Technology,2012,40(6). |
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| Authors: | ZHOU Zhi-zeng LIU Hong-liang GU Rong-jun HOU Shao-ling |
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