基于信息论测度的旁路泄露分析研究

针对密码芯片基于旁路通道的敏感信息泄露度量问题,以信息论测度理论为基础,通过综合运用统计信号处理、互信息等手段,提出了一种基于信息论测度的旁路泄露分析方法。该旁路泄露分析方法无需预先了解密码芯片的实现细节,并具备对高阶旁路泄露进行度量的能力。实验表明:该分析方法能够以较小的代价实现有效的旁路泄露检测。