| 基于状态变换的同步时序电路测试生成 |
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| 引用本文： | 何新华,宫云战,潘哲华.基于状态变换的同步时序电路测试生成[J].装甲兵工程学院学报,1996(1). |
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| 作者姓名： | 何新华 宫云战 潘哲华 |
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| 作者单位： | 装甲兵工程学院计算机教研室，装甲兵工程学院计算机教研室，装甲兵工程学院计算机教研室 北京，100072，北京，100072，北京，100072 |
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| 摘 要： | 详细分析了固定故障所反映出的状态变换特征,提出状态变换故障模型以及相对应的测试生成压缩方法;基于无复位时序电路,深入研究了有复位状态的同步状态机测试生成方法的扩展问题;最后讨论了故障精简以及启发知识在测试生成中的应用问题。
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| 关 键 词： | 状态变换图（STG） 测试生成 压缩 状态序列 |
State Transition-based Test Generation |
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| He Xinhua,Gong Yunzhan,Pan Zhehua.State Transition-based Test Generation[J].Journal of Armored Force Engineering Institute,1996(1). |
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| Authors: | He Xinhua Gong Yunzhan Pan Zhehua |
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| Institution: | He Xinhua Gong Yunzhan Pan Zhehua |
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| Abstract: | This paper describes state transition fault and collapsing of test generation basis of the character of fixed fault. According to the non -reset state machines, extending state testing coming from the state testing has been proposed. Also, fault collapsing and heuristic information used in testing process are analysed. |
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| Keywords: | State transition graph test generation collapse state sequence |
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