基于免疫粒子群文化算法的数字电路故障诊断

为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。     

边界扫描测试信息压缩算法

为了解决 IEEE 1 1 49.1边界扫描测试优化生成问题 ,提出了一种新型的测试矩阵压缩算法。该算法首先应用被测试电路板的结构信息构造有限制的短路故障模型 ,然后以有限制的短路故障模型为基础对测试矩阵进行压缩处理 ,尽可能剔除测试矩阵中的无效测试信息 ,从而达到测试优化生成的目的。理论分析及实验验证表明 ,该算法能够获得紧凑性指标相当优化的测试矩阵 ,实现较高的测试信息压缩率     

基于分组测试的小波变换图像编码

将分组测试与基于块结构的小波图像编码相结合,构造了一种具有多种可伸缩能力的编码结构,在保证分辨率和保真度可伸缩性的同时提供了对压缩图像的随机访问能力.结合上述编码结构,提出了一种低复杂度,具有分辨率、保真度可伸缩和随机访问能力的图像无损压缩算法.实验结果表明:该算法的无损编码码率与JPEG2000接近.     

3D SRAM中TSV开路测试算法研究与实现

基于三维集成电路技术实现的三维静态随机存储器,其电路中使用了大量的过硅通孔。目前过硅通孔制造工艺尚未成熟,使得过硅通孔容易出现开路或短路故障,从而给三维静态随机存储器的测试带来新的挑战。现有的过硅通孔专用测试方式虽然能够探测出过硅通孔的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计的复杂度。因此,提出一种使用测试算法来探测过硅通孔开路故障的方法。在不增加额外面积开销的情况下,通过内建自测试电路解决三维静态随机存储器中过硅通孔的开路故障检测问题。结果显示,该过硅通孔测试算法功能正确,能够准确探测到过硅通孔的开路故障,并快速定位过硅通孔的开路位置。     

电子装备随机存储器通用测试算法

随机存储器在电子装备中广泛使用,对其进行有效测试是电子装备自测试与生产功能测试的主要内容。以走一测试算法为基础,设计了数据线、地址线与存储单元测试方法,可以有效检测各种类型的RAM焊接质量与器件质量,对于提高故障定位精度和减少产品的测试时间起重要作用,特别是在电子装备的自测试、生产测试和维护测试中具有很好的应用前景。     

面向嵌入式火控软件的划分测试设计

根据嵌入式火控软件的数据特点 ,设计了相应的划分测试原则。并以某型坦克火控软件的实验数据对比了划分测试与随机测试的覆盖率 ,总结出对于该类软件划分测试具有一定的优势     

基于非独立测试的诊断策略优化生成

诊断策略优化设计是测试性设计中的一项重要内容.实际中的测试彼此间并非独立,即测试费用依赖于测试的先后顺序,针对这一问题,提出将测试划分成不同的测试模式,规定当一个测试序列中存在模式变换时必须考虑附加的转换费用.建立了同时考虑测试费用和模式转换费用启发式评估函数,并基于该启发式评估函数设计了近似最优的搜索算法,应用案例验证了本算法.试验表明该方法有效地解决了非独立测试的诊断策略优化生成问题.     

基于改进克隆选择算法的复杂系统测试选择

为了解决复杂系统测试优化选择问题,提出了一种基于改进克隆选择算法的测试选择方法.该方法针对测试选择问题的具体特点,对基本克隆选择算法进行了以下改进:采用二进制编码方式进行抗体编码,选用加性分段函数形式构建亲和度函数,利用混沌搜索优化初始种群的生成方式,并引入免疫网络的抗体抑制操作对抗体种群进行预处理.最后,以某实际系统为例进行了算法验证,实验结果表明:该方法搜索效率高,具有很强的全局和局部搜索能力,可有效解决复杂装备系统测试性设计中的测试优化选择问题.     

基于改进March SS算法的存储器测试技术研究

摘要：针对存储器的特点,介绍了存储器简化的功能故障模型．基于一种既可以测试静态简化故障又可以测试动态简化故障的MarchSS算法,提出了一种改进的存储器测试算法MarchSSI算法．该算法不仅能测出MarchSS算法测试的所有功能故障,而且能够覆盖MarchSS算法遗漏的故障,使算法故障覆盖率有了一定的提高．通过仿真,验证了算法的可行性．     

单步和多步寻优结合的诊断策略构建方法

为避免AO*算法及Rollout算法的回溯操作,同时克服信息熵算法最优性较差的问题,达到以较低测试费用对装备进行故障检测和隔离的目的,提出了一种单步和多步寻优结合的诊断策略构建方法.该方法以诊断策略构建与无噪声编码的相似性为依据,根据故障状态模糊集中的概率分布情况选择单步或多步寻优搜索方法.提出在故障状态模糊集中概率最...     

考虑机内测试诊断的维修任务模型及算法

机内测试设备（Built—in Test Equipment,BITE）在复杂系统中的应用越来越多,由于BITE诊断存在不确定性,就可能导致无效的维修．采用一种考虑BITE诊断不确定性的维修任务选择模型及其求解算法,以在一定置信水平下获得最佳的维修方案．首先,给出了考虑BITE诊断不确定性的维修任务选择问题的假设条件,建立了非线性的、离散的随机机会约束规划模型．其次,设计了求解随机机会约束规划模型的一种基于随机模拟的粒子群算法,包括粒子的表示、适应度函数、更新公式、算法框架等．最后,给出了具体实例,证明了模型与算法的有效性．该模型适用于管理人员在考虑BITE诊断不确定性的情况下做出合理的维修任务选择决策．     

基于边界扫描技术的板级测试性优化设计

介绍了边界扫描技术的基本原理,论述了板级电路测试性设计的思想,提出一种基于二进制粒子群算法的板级电路测试性设计最小化优化方法。实验结果表明,该算法在优化效果、运算时间上均获得了较好的结果。     

基于改进遗传算法的测试性优化分配方法

测试性优化分配是在测试性分配中合理配置各项测试资源,以满足测试性分配要求和资源约束条件。一般的遗传算法存在最优解不易求解、初始参数值不易设置等缺陷,因此,为了更加高效合理地进行测试性优化分配,在传统遗传算法中引入迁移技术来优化遗传迭代过程,并运用AHP法对算法初始参数进行调整,从而提出了基于改进的遗传算法的测试性优化分配方法。算例分析表明该方法可快速有效地求得测试性优化分配问题的最优解。     

线性系统测试矩阵优化

研究了工程中常见的线性系统循环指数为1(即其约当标准形不同的约当块不出现重根)的情况下测试矩阵优化的方法.通过将系统矩阵变换为约当标准型,能够简单地判定测试矩阵能否保持系统可观测.采用该方法可以在保持系统可观测的情况下,简单而直观地获取系统测试代价最小的测试策略.例子表明,该算法在工程上易于应用.     

测试能力评价与测试平台建设

测试能力成熟度模型(TMM)是衡量测试过程成熟度的模型。文中对TMM与CMM进行了比较,给出了TMM评估模型的符号表示和测试能力等级评估算法,并以TMM 2级为例提供了测试平台的建设方案以及改进方案.     

网络化并行测试构架初探

相对传统顺序测试技术,并行测试技术可大幅提高测试性能及质量。针对现役保障装备特别是测试设备使用过程中表现出的通用性差、种类繁多、综合化差和集成度低的问题,以"通用化、小型化、系列化"为目标,研究了并行测试技术和网络测试适配技术,提出基于网络化并行测试的航空装备测试新架构,该架构解决了外场保障规模大、保障效率低、保障资源浪费、无法满足快速机动保障的问题。     

基于反正切函数的测试性分配方法

针对现有主流测试性分配方法存在的分配指标过低和过高等不合理问题,分析认为其根源在于现有方法采用线性分配函数,而该函数不符合测试性指标提升规律,为此,构造了一种基于反正切函数的测试性分配函数,设计故障检测率与故障隔离率指标的分配算法,开展案例应用并与经典故障率分配法和综合加权分配法进行对比分析,结果表明随着分配权重(故障率)的变大,本方法分配指标的增幅逐渐减小,不会出现极低指标和超1指标的不合理情形。     

基于机器视觉的喷管摆角测试系统

针对摆动喷管摆角参数非接触的测试需求,设计了一种基于PC的喷管摆角的视觉测试系统,采用机器视觉的方法实现摆动喷管摆角的非接触测量,通过设计的模板匹配加圆拟合的复合式图像处理算法,在保证精度和速度的情况下检测喷管的轮廓及圆心,实现喷管摆角的测量,同时利用系统的标定算法校正了视觉系统中存在的畸变,边缘检测的算法降低了环境因素的影响,保证了测试系统的精度,具备现实环境下的实用性.     

阻抗测试的采样数值算法

提出一种用于阻抗测量的算法———采样数值算法 ,这种算法是将激励信号和阻抗产生的响应信号通过同步采样技术转换成数值序列 ,将响应数值序列在由激励数值序列构成的正交坐标系中分解 ,得到响应数值序列的同相分量和正交分量 ,求出测试阻抗的参数值。这种阻抗测试的算法 ,具有独特的优点 ,不产生原理测量误差 ,测量精度高     

测试性增长中资源优化配置模型及求解

良好的测试性设计对系统维修性具有重要意义,测试性增长试验通过一系列测试性设计缺陷发现和纠正措施,可保证系统测试性指标达到设计要求。针对基于延缓纠正的测试性增长过程中的资源配置问题进行研究,基于增长试验目标是否明确和试验资源是否受限制问题构建资源优化配置模型,并提出一种基于拉格朗日松弛和本地搜索的快速优化算法。仿真结果表明:该模型能够有效指导测试性增长中的资源优化配置问题,所提混合优化方法能够高效、准确地求解整数规划问题。