基于局部积分双谱与SVM的雷达目标识别

针对高分辨距离像的特点,应用双谱与SVM研究高分辨雷达目标识别问题。提出了基于局部积分双谱与SVM的雷达目标识别方法。该方法选择具有最强鉴别能力的积分双谱构成局部积分双谱特征,基于局部积分双谱进行距离像特征提取,然后应用支持向量机对提取的特征进行分类识别。利用四种局部积分双谱的目标识别仿真实验结果表明,提出的方法具有良好的分类性能。     

空天一体预警探测实验室建设探讨

介绍了美军作战实验室的现状,分析了我军空天一体预警探测实验室的功能需求,提出了空天一体预警探测实验室的概念,并对空天一体预警探测实验室的体系结构和管理模式进行了探讨。结合我军实际,从作战体系层次、实体结构层次、技术规范层次对空天一体预警探测实验室的体系结构建设进行了设想,对其管理模式给出了建议。     

离子束抛光加工矩形离轴非球面镜

采用一种简单的方法使用线性三轴离子束系统实现了矩形离轴非球面镜的抛光加工.根据离子束材料去除机理,分析了去除函数的法向材料去除特性,并且以去除函数束径、峰值去除速率和体积去除速率为指标,评价了入射角的小扰动鲁棒性.利用相关的分析和实验结果,对矩形离轴镜的抛光加工进行了合理的简化,并在自行研制的离子束抛光机床上进行了修形...     

一种新型杂波环境下突发机动目标跟踪算法

针对杂波环境下突发机动目标跟踪性能下降问题,提出了一种基于自适应匀加速模型的交互式自适应概率数据关联算法。该算法在交互式概率关联算法基础上,采用带渐消因子的自适应匀加速模型(ACA)与匀速模型(CV)相交互,克服了卡尔曼和扩展卡尔曼滤波的三大缺陷,保证了在突发机动下的良好跟踪性能,扩大了机动目标的跟踪范围,实现了杂波环...     

不规则2D Torus体系结构与路由算法

2D Torus拓扑结构可以简单地分为n×n的规则Torus和m×n的不规则Torus.在研究规则Torus拓扑结构的基础上,首先将约翰逊编码运用于不规则的2D Torus节点编码中,对m×n的不规则Torus拓扑结构中的平均延时和理想吞吐量进行了理论上的评估,并提出了一种基于不规则Torus的新的静态路由算法:TE-XY路由算法.最后运用NS2网络仿真软件对其和TXY路由算法进行了仿真和比较.实验结果显示,新的路由算法可以有效地提高吞吐量,并在大规模数据传输时不容易造成阻塞,表现了较好的性能.     

电缆绝缘电阻测试基于嵌入式LINUX系统的驱动开发

在Linux通用驱动程序的基础上,根据电缆绝缘电阻测试的功能需求,结合proc文件系统设计思想,完成基于嵌入式Linux系统的测试仪驱动程序的设计与开发.根据芯片接口设计介绍了读写操作的实现过程;利用中断和互锁机制提高系统效率和稳定性,通过系统调试证明此驱动程序运行时速度快、内存利用率高,能够满足系统需求,具有较好的工程应用价值.     

Ad Hoc网的IEEE802.11 MAC协议退避算法

IEEE802.11的MAC协议是移动Ad Hoc网络目前事实上的标准.节点成功发送后,该协议中的信道接入退避算法将节点竞争窗口值CW(contention window)设为最小竞争窗口值CWmin,这种算法易造成某个节点一直占有信道,使得其他节点出现“饥饿”现象.提出一种改进算法EBEB(enhanced binary exponential backoff),用窗口阀值CWmid区分网络状态,让节点据此来合理的设置当前的竞争窗口,而不是直接设为最小值,避免节点之间产生严重的不公平.仿真结果表明改进算法EBEB在数据丢失量、时延、吞吐量上优于原有的BEB(Binary exponential backoff)算法.     

纯方位交叉定位算法分析

针对纯方位交叉定位中存在着地球曲率对定位精度影响的问题,提出了基于正北方向修正和椭球模型两种定位算法.通过与传统的交叉定位算法比较,可以看出这两种算法具有较好的定位精度.在理论上分析了测量误差和观测站位置误差对定位精度产生的影响,给出了几何精度因子（GDOP）的理论推导和仿真结果.     

改善电感测微仪二次测量电路精度的措施

介绍了差动调幅式电感测微仪的工作原理,分析了影响二次测量电路精度的因素,在此基础上提出了利用自稳幅技术以及波形改善技术、全波数字相敏检波技术以及软件部分的数字滤波、线性补偿技术来改善测量精度的措施。实验结果表明,采用上述改进措施,测量精度有了显著的提高。     

长方体类光学元件形位误差高精度测量方法

如何实现长方体元件光学面形位误差的高精度测量以及怎样利用测量数据对这些误差进行修正加工是制造过程中的主要问题。提出一种基于波面干涉的长方体类光学元件形位误差测量方法,借助大口径干涉仪和高精度端齿盘搭建测量系统,实现了长方体类光学元件1μm/400mm精度的平行度和垂直度测量,获得了高精度的形位误差综合分布数据,并利用磁流变、小磨头数控抛光等现代光学加工手段实现了此类光学元件的高精度加工。