建模工具SIMDEMO在体系对抗中的应用

介绍了面向领域的建模工具SIMDEMO,并对其在武器装备体系对抗建模中的应用进行了研究。描述了SIMDEMO的应用环境和模式,分析了其功能结构。对体系对抗建模所涉及的概念模型进行了抽象;针对其专属概念,在反射式工具架构基础之上,对SIMDEMO进行了定制;基于多视图建模方法,给出了体系对抗建模的过程指导。     

MGR-SAT:一种基于流模板的多粒度可重构数字信号处理器

面对需求各异的数字信号处理应用,当前主流的通用处理器、DSP、ASIC和FPGA不能同时满足各应用在成本、功耗、性能、灵活性方面的要求.针对这些问题,结合流处理技术、可重构技术和平台技术,提出一种基于流模板的多粒度可重构数字信号处理器MGR-SAT.MGR-SAT利用流处理技术来解耦合数据运算与访存,提供多种粒度的大规...     

外加电位条件下7A52铝合金应力腐蚀开裂敏感性研究

摘要：采用电化学极化手段和慢应变速率拉伸试验,结合扫描电镜观察合金断口形貌,研究了外加电位对7A52铝合金应力腐蚀开裂敏感性的影响。研究结果表明：合金在3．5％NaCl溶液中的应力腐蚀开裂敏感性与外加电位有强烈的相关性,开裂敏感性在外加电位为一0．95V时最低,外加电位起到阴极保护的作用;在外加电位为一1V时有所升高,但仍然低于开路电位条件下的敏感性;在一1．1V时最高,应力腐蚀过程以氢脆为主;在一1．2V时又有所降低,阴极析出的氢以气态逸出而降低应力腐蚀开裂敏感性。     

应用单亲遗传算法进行大规模UCAVs任务分配

在应用GA求解大规模无人作战飞机(UCAVs)任务分配这个典型组合优化问题时,需要使用描述问题直观的序号编码方式,但由于传统的交叉、变异算子操作复杂,因而进化效率不高.针对上述的不足,提出了一种单亲遗传算法,采用序号编码,使用基因换位等遗传算子,简化了遗传操作.通过对单亲遗传算法、传统遗传算法求解该问题所得的结果作了详细的比较,证明了单亲遗传算法在寻优效率上的优越性.     

一种基于组合降维的图像识别方法

为克服图像识别中传统方法需要进行高维矩阵奇异值分解的困难,提出了先局部降维再总体降维的组合变换方法.ORL人脸图像数据库的实验表明,这一方法不仅减少了运算量,而且能较好地解决人脸这样一类复杂的图像识别问题;总体来说优于传统的基于KL变换的识别方法.     

一种基于粒子群优化算法的异构传感器分配方法

针对复杂的战场环境下目标环境机动性增强、传感器资源相对不足且单一传感器获取空间目标信息不完备问题,结合传感器节点自身的性能特征,考虑传感器的抗干扰性能等因素,提出一种传感器信息感知能力评估指标体系,并构建了传感器感知能力定量评价模型,计算出传感器指数.再利用传感器指数,考虑了覆盖率、电磁环境变化、态势变化等因素作为目标函数,研究基于粒子群算法的传感器分配方法,以实现传感器位置的最优分配及感知能力最大化的需求.仿真结果表明,将粒子群优化算法用于该研究,提高了传感器的总体感知能力和资源有效利用率.     

基于改进二进制蝙蝠算法的装备资源保障规划

针对联合作战环境下的装备资源精确保障协同规划问题,考虑以所有保障任务完成时间最短为目标,以保障任务的执行时序和资源需求、保障编组占用冲突,以及资源平台能力更新机制等复杂条件为约束,构建数学模型,提出了基于动态列表调度(Dynamic List Scheduling,DLS)和自适应进化变异二进制蝙蝠算法(Adaptive Mutation Binary Bat Algorithm,AMBBA)的混合装备资源协同保障规划方法.通过动态列表调度选择当前执行保障的任务,在二进制蝙蝠算法寻优中引入自适应学习因子以平衡全局搜索和局部搜索能力,通过在当前可用资源集中搜索最优解为选定任务分配资源,以复杂地域联合作战为例仿真并验证规划效果,结果显示,所提方法可对大规模装备资源协同分配保障问题进行精确高效求解.     

边界扫描测试中簇测试交迭置入方案研究

针对电路板边界扫描测试中簇测试时间较长、测试效率较低问题 ,以并行测试思想为基础 ,提出了一种簇测试置入方案———交迭置入方案 ,并对其进行了理论分析和实验验证。结果表明 ,该方案是最优的簇测试置入方案 ,可以显著减小簇测试时间 ,提高簇测试效率     

边界扫描测试信息压缩算法

为了解决 IEEE 1 1 49.1边界扫描测试优化生成问题 ,提出了一种新型的测试矩阵压缩算法。该算法首先应用被测试电路板的结构信息构造有限制的短路故障模型 ,然后以有限制的短路故障模型为基础对测试矩阵进行压缩处理 ,尽可能剔除测试矩阵中的无效测试信息 ,从而达到测试优化生成的目的。理论分析及实验验证表明 ,该算法能够获得紧凑性指标相当优化的测试矩阵 ,实现较高的测试信息压缩率     

可测试性技术中的图论问题及其求解

近 2 0年来 ,为了解决结构日益复杂的电路测试问题 ,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中 ,针对不同的测试对象 ,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化 ,降低总体代价 ,是亟待解决的问题。为了解决这两类典型的优化问题 ,首先应用图论方法建立问题的拓扑描述模型 ,然后通过构造相应的逻辑求解函数 ,给出问题最优解的求解算法 ,并通过简单实例演