利用过阻尼电路合成高压方波脉冲

在过阻尼RLC电路分时放电的基础上,提出新型高压方波脉冲产生方法。理论分析表明:过阻尼RLC电路产生的双指数电压波与脉冲形成线产生的方形电压波具有类似的上升沿和平顶。电路模拟表明:通过人工过零技术可以对双指数电压波进行截尾,从而形成完整的高压方波脉冲。建立了原理验证性样机,由两组RLC电路构成,每组电路包含一台脉冲电容器和一只三电极场畸变气体开关,两组电路共用一个上升沿调节电感。实验证明:样机可以在电阻负载上输出幅值为17 kV、平顶宽度为330 ns～5.8μs、上升沿为100～350 ns的单极性高压方波脉冲。该方法适应性强,对负载变化不敏感,同时具有良好的可调节性,方波上升沿、平顶宽度连续独立可调。     

PMI泡沫夹层结构雷达天线罩间接热-结构耦合分析与实验研究

机载PMI泡沫夹层结构雷达天线罩在环境温度变化时将产生表面变形现象并影响其使用性能,但对天线罩热变形结果进行实时检测分析具有一定难度。通过ANSYS间接热-结构耦合法建立了分析模型,对天线罩进行了计算分析,采用热膨胀片状模型进行了理论分析,在此基础上,设计并开展了温度冲击实验研究。结果表明, PMI夹层结构天线罩的热-结构耦合变形综合应变趋势是棱边处膨胀程度最大,由边缘至天线罩透波面中心处,膨胀程度逐渐减小;间接热-结构耦合计算应变值与实测应变值之间平均相差35.08%,间接热-结构耦合分析方法与模型具有一定的可信性。     

利用RLC电路合成高压方波脉冲

基于过阻尼RLC电路分时放电,提出了一种新型高压方波脉冲产生方法。理论分析表明过阻尼RLC电路产生的双指数电压波与PFL产生的方形电压波具有类似的上升沿和平顶。电路模拟表明通过人工过零技术可以对双指数电压波进行截尾,从而形成完整的高压方波脉冲。建立了原理验证性样机,由两组RLC电路构成,每组电路包含一台400 nF脉冲电容器和一只三电极场畸变气体开关,两组电路共用一个上升沿调节电感。实验证明样机可以在250 Ω电阻负载上输出幅值17 kV,平顶宽度330 ns~5.8 μs,上升沿100~ 350 ns 的单极性高压方波脉冲。该方法适应性强,对负载变化不敏感,同时具有良好的可调节性,方波上升沿、平顶宽度连续独立可调。     

基于测试码并行的同步时序电路故障模拟方法

将组合电路故障模拟的一些加速技术推广到时序电路故障模拟中,提出并实现了一个功能块级的基于测试码并行的同步时序电路故障模拟方法,对部分ISCAS89 Benchmark电路的模拟结果表明,该故障模拟方法有较好的性能.     

Holonic-C2组织决策分配及演化方法

为了有效发挥指挥控制(Command and Control, C2)组织集中式决策和协作式决策的决策优势,对具有决策权限动态变化能力的Holonic-C2组织的决策分配问题进行研究。针对群决策中专家固定权重的主观性太强的缺点,提出基于专家权威性和意见一致性相结合的专家组选择方法,提高了决策分配过程中多属性决策的客观合理性;针对决策分配的动态演化问题,提出基于多阶段决策的决策模式演化机制,在考虑属性前后阶段的变化的基础上,给出相邻阶段决策模式跃迁方法。仿真结果表明,所提方法能够给出相对客观的决策模式的优劣排序以及多阶段的演化路线,从而证明了方法的可行性和有效性。     

美国应对外空国际条约的做法简析

针对现行国际空间法存在的诸多漏洞和缺陷,国际空间大国积极利用这些漏洞寻求开展外空试验的依据,并规避法律的约束以发展外空武器装备,使得外空存在被武器化的风险,外空军备竞赛日益激烈。因此,研究并利用外空条约、关注空间大国开展外空试验的现实做法,可以为开展外空活动提供借鉴和依据。本文重点研究了美国海基反卫试验和轨道快车试验,从试验背景、目的、对外口径以及对外反应几个方面,综合对比分析了试验的现实做法,剖析了美国应对外空条约的做法,从技术上、政策上和法律上得出了如何应对的方法和途径。研究成果可为我国合理合法地开展外空行动提供借鉴,从而赢得国际社会的认可。     

美国陆军作战试验部队管理体系研究

作战试验部队是试验鉴定力量体系的重要支撑,是完成装备作战试验的直接载体。美国在装备试验与鉴定方面走在世界前列,建立了一整套行之有效的管理体制,陆军实行试验与鉴定的一体化管理,具有独立的作战试验鉴定部门,没有编设专业化的作战试验部队,试验任务主要根据装备的特性选取未来典型用户的作战部队在真实对抗环境中完成。作战试验部队主要参加作战评估、初始作战试验与评价以及后续作战试验与评价三个阶段的作战试验,在一体化试验小组的协调下,依托靶场完成试验训练任务。本文主要通过对美国陆军试验部队的研究,分析了美国陆军作战试验与鉴定发展概况,重点研究了作战试验部队管理体系,并从整个试验与鉴定系统归纳总结作战试验部队管理及相关工作的主要做法。     

Study on performance degradation and failure analysis of machine gun barrel

An increase in the use of the gun barrel will cause wear of the inner wall, which reduces the muzzle velocity and the spin rate of the projectile. The off-bore flight attitude and trajectory of the projectile also change, affecting the shooting power and the accuracy. Exterior ballistic data of a high-speed spinning projectile are required to study the performance change. Therefore, based on the barrel's accelerated life test, the whole process of projectile shooting is reproduced using numerical simulation technology, and key information on the ballistic performance change at each shooting stage are acquired. Studies have shown that in the later stages of barrel shooting, the accuracy of shooting has not decreased significantly. However, it is found that the angle of attack of the projectile increases as the wear of the barrel increases. The maximum angle of attack reaches 0.106 rad when the number of shots reaches 4300. Meanwhile, elliptical bullet hole has appeared on the target at this shooting stage. Through combining external ballistic theory with simulation results, the primary reason of this phenomenon is found to be a significant decrease in the muzzle spin rate of the projectile. At the end of the barrel life, the projectile muzzle spin rate is 57.5% lower than that of a barrel without wear.     

Priori information analysis of optocoupler accelerated degradation experiment based on failure mechanism verification test

The optocoupler is a weak link in the inertial navigation platform of a kind of guided munitions. It is necessary to use accelerated storage test to verify the storage life of long storage products. Especially for small sample products, it is very important to obtain prior information for the design and implementation of accelerated degradation test. In this paper, the optocoupler failure mechanism verification test is designed and the experimental results are analyzed and the prior information is obtained. The results show that optocouplers have two failure modes, one is sudden failure and the other is degradation failure; the maximum temperature stress of optocoupler can't exceed 140 °C; the increase of leakage current of optocoupler is caused by movable ions contaminating the LED chip. The surface leakage current is proportional to the adsorption amount. The increase of leakage current makes p-n junction tunneling effect occur which LEDs the failure of the optocoupler. The lifetime distribution model of the optocoupler is determined by the failure physics. The lifetime of the optocoupler is subject to the lognormal distribution. The degeneracy orbit of the optocoupler leakage current is described by a power law model. The estimated values of the orbital parameters are initially calculated and the parameters of its life distribution function are deduced. The above information lays a good foundation for the optimization design and data processing of the accelerated degradation experiment.     

线性系统测试矩阵优化

研究了工程中常见的线性系统循环指数为1(即其约当标准形不同的约当块不出现重根)的情况下测试矩阵优化的方法.通过将系统矩阵变换为约当标准型,能够简单地判定测试矩阵能否保持系统可观测.采用该方法可以在保持系统可观测的情况下,简单而直观地获取系统测试代价最小的测试策略.例子表明,该算法在工程上易于应用.