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461.
分析了坦克装甲防护系统与反坦克武器系统的现状和发展趋势,提出了以杀伤爆破弹反坦克的思想,分析了杀伤爆破弹反坦克的可行性和毁伤机理,并通过试验进行了验证,提出了测试杀爆弹的破片和冲击波综合毁伤效果的方案,对我军反坦克武器的发展具有一定的借鉴意义。  相似文献   
462.
火控系统动态精度环绕测试设计方法   总被引:1,自引:1,他引:0  
借鉴环绕BIT技术的思想,提出一种火控系统动态精度环绕测试的设计方法.该方法充分利用火控计算机的固有资源,通过增加少量接口转换电路(一组现在点坐标输出接口和一组射击诸元输入接口),来提高火控系统动态精度检查测试性水平.对于采用环绕测试设计的火控系统,只需使用两根外接电缆,无须外接检测计算机,即可完成动态精度检查的任务,从而显著降低了操作复杂性.该设计方法的一个优点是不会影响系统的可靠性.  相似文献   
463.
本文讨论了在净室软件工程方法指导下开发的软件系统在统计测试无失效发生时,利用贝叶斯方法并结合软件结构特征,估计软件失效概率的多种处理方法,并用数值方法讨论了软件无失效测试终止的标准。  相似文献   
464.
针对遥测设备脉冲变换器功能检测的需求,设计了基于以太网通信的脉冲变换器测试系统。采用现场可编程门阵列(FPGA)作为测试系统的核心控制器,通过对各功能模块的时序控制,完成多路信号源的产生和变换器工况数据接收的任务。通信模块采用以太网协议芯片W5300。相比传统的USB总线,W5300具有硬件电路简单、传输速率快且信号稳定的优点。整个系统运用模块化和软件化的设计思想,提高了测试的灵活性和自检纠错能力,能可靠实时检测变换器的性能状况,成为国防航天设备研发中不可缺少的一环。  相似文献   
465.
基于3D-IC技术实现的3D SRAM,其电路中使用了大量的TSV。目前TSV制造工艺尚未成熟,使得TSV容易出现开路或短路故障,从而给3D SRAM的测试带来新的挑战。现有的2D BIST测试方式能够探测到3D SRAM中存在的故障,但并不能判定是TSV故障还是存储器本身故障;TSV专用测试电路虽然能够探测出TSV的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计复杂度。基于此,本文提出了一种使用测试算法来探测TSV开路故障的方法,在不使用TSV专用测试电路且不增加额外面积开销的情况下通过BIST电路解决3D SRAM中TSV的开路故障检测问题。结果显示该TSV测试算法功能正确,能够准确探测到TSV的开路故障,并快速定位TSV的开路位置。  相似文献   
466.
为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。  相似文献   
467.
<正>本文探讨了数字化检验应用在装备质量监督中的优点、存在的问题,并从改进军代表办公环境、注重装备测试性研究、加强对数字化军检运用的探索等三个方面提出了展望。当前,社会正以空前快速的步伐迈向信息时代,信息时代最大的特征就是几乎所有的信息都可以被转化为可被计算机识别和处理的"1"和"0"代码进行管理。因此,信息时代又被称为数字化时代。作为武器装备质量监督和检验验收这个技  相似文献   
468.
<正>勤动脑筋不惜力,早晚必会成大器。1985年,孔令择从湖南工程学院电器专业毕业后进入五分厂,从事设备的综合测试及总装测试仪器的维修等工作。从上班的那天起,他就养成了一系列良好的习惯:每天工作后做笔记、记录设备出现故障的原因、设备是怎样修好的等内容……至今他已经记录了100多万字的工作笔记。  相似文献   
469.
忆阻器是近年来发现的一种新型无源电路元件,具有非易失记忆特性,且在开关性能和工艺尺寸等多方面具有优势,可能成为IT技术新的物理基础。本文概述了忆阻器的研究意义,详细介绍了忆阻器的定义与发展历程,着重从器件制备、表征测试、基于忆阻器的新型计算系统应用等三个方面综述总结了国内外发展现状,并对忆阻器未来发展所面临的挑战进行了展望。研究表明,忆阻器相关研究将为突破冯诺依曼计算机构的限制,研究下一代计算系统奠定扎实的器件与架构基础。  相似文献   
470.
陆军导弹武器系统测试性研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对陆军导弹武器系统的特点,论述了系统测试性和系统测试性设计的基本概念,在解释它们内涵的同时,说明了如何从本质上理解它们在导弹武器系统全寿命周期中的重要作用。为了保持系统的良好测试性,从定量和定性两个方面提出了测试性设计的基本要求,研究了提高系统测试性的主要方法。  相似文献   
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