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212.
为了解决 IEEE 1 1 49.1边界扫描测试优化生成问题 ,提出了一种新型的测试矩阵压缩算法。该算法首先应用被测试电路板的结构信息构造有限制的短路故障模型 ,然后以有限制的短路故障模型为基础对测试矩阵进行压缩处理 ,尽可能剔除测试矩阵中的无效测试信息 ,从而达到测试优化生成的目的。理论分析及实验验证表明 ,该算法能够获得紧凑性指标相当优化的测试矩阵 ,实现较高的测试信息压缩率 相似文献
213.
近 2 0年来 ,为了解决结构日益复杂的电路测试问题 ,可测试性技术得到了迅速发展。在可测试性技术中 ,针对不同的测试对象 ,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化 ,降低总体代价 ,是亟待解决的问题。为了解决这两类典型的优化问题 ,首先应用图论方法建立问题的拓扑描述模型 ,然后通过构造相应的逻辑求解函数 ,给出问题最优解的求解算法 ,并通过简单实例演 相似文献
214.
IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计的有效方法,为了高效地应用边界扫描机制对电路系统进行测试,必须对其所涉及的理论方法进行深入探讨。本文应用布尔矩阵理论建立起边界扫描测试的数学描述模型,并基于所建立的模型导出了边界扫描测试中的故障检测条件和故障隔离条件。为边界扫描测试生成算法的深入研究奠定了理论基础。 相似文献
215.
参考服务器/客户端的可堆叠通信模式,以最常见的SATA硬盘作为存储介质,Marvell 88SM9705为核心控制芯片,设计了一种可堆叠的存储介质。经测试,88SM9705通过解析主机端发送来的SATA 3.0协议定义的帧信息结构(Frame Information Structure,FIS)中PM Port地址字段,能依次对其所连接的多个SATA硬盘进行正确的读、写等操作,实现了存储设备的可堆叠,稳定性能良好。是一种实现扩容同步提速的可堆叠存储阵列解决方案,在嵌入式存储系统领域具有很好的应用前景。 相似文献
216.
217.
大型电子装备层次诊断应用研究 总被引:2,自引:1,他引:1
根据电子装备诊断的特点,探讨了利用层次性理论对电子装备进行故障诊断的必要性和可行性,给出了层次性诊断中层间诊断和层内诊断的概念、原理及实现方法。首次将可列集的概念引用到层次诊断中,并给出了层次诊断中故障模式空间的选取原则,为层次诊断的工程实现和未来进行多信息诊断提供了基本框架。 相似文献
218.
分析了几种已有的可扩性分析模型 ,并对传统的时间受限与存储受限加速比定律作了新的解释。在此基础上 ,概括出了可扩性分析的本质 ,定义了一类一般意义下同构机器与并行算法组成的并行系统的可扩性模型 ,并由此出发 ,提出了三种新的可扩性模型 :等平均I/O需求模型 ,等平均通信需求模型和等利用率模型。最后探讨了工作站机群与并行算法组成的并行系统的可扩性分析。 相似文献
219.
内容可寻址存储器 (CAM )是一种快速匹配存储器件 ,在通信、雷达等许多领域有着广泛的应用。在介绍CAM基本原理的基础上 ,提出了在两类新型FPGA上实现CAM的设计方法 ,并讨论了两种基于CAM的新型关联比较器 (CP)实现途径 ,通过半实物仿真实验 ,验证了CAM和CP的实时信号处理性能。 相似文献
220.
不久前,美军在索马里进行了一次全息射影术试验,对此世界各国军界表示普遍关注和重视,认为这种技术是未来战场上的“心理隐形武器”。 相似文献