利用复单脉冲比的平面阵列雷达群目标检测方法

针对平面阵列雷达群目标检测问题,以矩形阵为例,详细分析方位向和俯仰向复单脉冲比虚部的统计特性;建立平面阵列雷达群目标检测模型,根据恒虚警检测原理推导复单脉冲比虚部的椭圆判决域,并利用复单脉冲比实部辅助判决,综合提出基于复单脉冲比的平面阵列雷达群目标检测算法。针对双目标情形进行仿真实验,结果表明:在较高信噪比、较大角度间隔以及幅度相当且相位差较大的条件下算法能够有效检测群目标。     

降低OFDM雷达PAPR的SLM改进算法研究

正交频分复用(orthogonal frequency division multiplexing,OFDM)雷达信号具有良好的分辨力和较高的频谱利用率,其中基于混沌二相编码调制的OFDM雷达信号由于具有结构灵活、更优的脉压性能和较强抗干扰能力等优点受到广泛青睐,但是在系统中存在的高峰均比问题使得OFDM雷达在实际应用受到限制。针对各载波不同混沌二相编码序列调制的OFDM雷达信号,提出一种基于混沌粒子群的选择性映射(selective mapping,SLM)算法来降低OFDM雷达信号中的高峰均比问题。实验结果表明:相比于传统SLM算法和基本粒子群SLM算法,基于混沌粒子群的SLM算法在降低OFDM雷达信号的峰均比方面具有更好的效果。     

大长径比弹体侵彻混凝土结构强度、稳定性及振动特性研究

针对典型大长径比弹体SDB在侵彻混凝土靶时的结构强度及稳定性问题,基于空腔膨胀阻力模型,给出了其在不同打击工况下极限安全壁厚、抗弯破坏临界倾角及攻角的控制要求。基于压弯耦合屈服条件,研究了着靶速度、着靶姿态及无量纲壁厚对弹体结构塑性弯曲失稳的影响规律,进一步得到了保证弹体稳定条件下结构参数(长径比、无量纲壁厚)、着靶状态参数(着靶速度、着靶姿态)及弹体材料强度间的耦合约束控制条件。考虑大长径比对弹体结构振动响应的影响,通过有限元模态分析及谐响应分析获取了弹体结构的固有频率及模态振型,揭示了结构的振动响应特性。研究结论和成果可为大长径比弹体结构设计、能力评估及弹目交汇参数控制提供思路和依据。     

试件水灰比和胶砂比对混凝土硫酸盐侵蚀速度影响

通过大量试验,采用强度指标研究了试件水灰比和胶砂比对硫酸盐侵蚀速度的影响.结果表明:试件的水灰比越大,胶砂比越小,侵蚀速度越快;为了加快硫酸盐侵蚀速度,宜采用大水灰比、小胶砂比的试件.在各种条件下,硫酸钠侵蚀破坏的速度比硫酸镁侵蚀快.对硫酸钠型侵蚀,采用抗折抗蚀系数作为判定指标较为合理,而对硫酸镁型侵蚀,应该综合考虑抗折抗蚀系数和抗压抗蚀系数.     

制导雷达自适应旁瓣对消研究

制导雷达中若使用常规自适应旁瓣对消方法,辅助天线中的期望信号会引起测角误差.如果不采取应对措施,雷达无法对目标进行有效跟踪.提出了一种改进的自适应旁瓣对消方法,该方法中的辅助天线方向图在期望信号方向形成了零点,因而能够消除由于辅助天线中期望信号的存在而引起的测角误差.理论分析和计算机仿真结果表明改进方法是有效的.     

基于小波多方向信息组合的纹理图像检索

针对基于单一小波和复小波的纹理图像检索方法中图像纹理的向性信息不够多、影响检索率的问题,本文提出了一种将传统小波和复小波分解后得到的方向子带信息进行组合,并计算其一阶统计矩以提取特征,以Canberra距离度量相似性,从而提高纹理图像检索率的方法。对Brodatz图像库的仿真实验表明,本文提出的方法优于传统小波和复小波。     

非相干两点源对单脉冲雷达的干扰分析

建立了对单脉冲雷达进行角度欺骗的非相干两点源干扰模型;分析了在两点源随机相位差的影响下,两点源功率比不同时的雷达天线指向误差角.仿真表明:非相干两点源能够有效地对单脉冲雷达角跟踪系统造成测角误差,其干扰效果可以等效成相位差为π/2的相干两点源干扰;雷达天线在两源等功率时指向两者重心,功率不等时既不指向两源能量重心也不指向功率较大者,而是两者之间的某个点.     

谐波信号选取对引信启动概率影响分析

目标有效反射面积影响引信的作用距离,进而影响引信的启动概率.针对某比相引信在射击隐身目标时启动概率很低的情况,在分析不同谐波信号对引信作用距离影响的基础上,提出选择其他谐波成分作为幅度支路,与原比相引信构成复合引信,解决了射击不同目标时引信启动概率较低的问题.     

中核集团首次发布《社会责任报告》

1月12日,记者从中国核工业集团公司了解到．2008年中核集团实现主营业务收入比上年增长39％,实现利润总额48亿元,比上年增长85％,一批新的核电项目进展良好。     

基于辐照度标准传递的辐亮度校准系统

介绍了一种新型辐亮度校准系统,通过溯源至国家辐照度标准,构建了军用光辐射校准平台。对系统的测量不确定度分析表明,该系统可以满足装备计量保障对测试不确定度比的通用要求,适用于装备专用检测设备的辐亮度校准。