有机质活性肥在马铃薯微型薯生产中的试验效果

１．前言无土栽培法生产马铃薯微型种薯是目前国内许多研究单位及企业普遍采用的一种方法。在北方及西北地区常以蛭石作为无土栽培基质,蛭石是含水硅酸盐类的一种云母状矿物,且有稳定的化学性质,其优点是疏松容易扦插,利于生根,透水通气,且有保持水分和养分的能力,缺点是潜在养分含量低,几乎不含有机质,在实际生产中采用营养液供给形式,虽然能保证植物生长和结薯,但还存在植株生长势弱,结薯率低和旧基质重复使用盐分积累多,致使苗生长滞缓等现象。基于这种情况,我们进行了基质底层加有机活性肥的试验,旨在提高植株生长量、单…     

该有的，一个都不能少——湖南省株洲军分区统筹兼顾抓好节能减排工作纪实

节能减排,是一场竞赛,又是一场思想交汇、利益交织的博弈。处于“两型社会”配套改革试验前沿地带的湖南省株洲军分区在这场战斗中,通过科学解读相关理论、充分理清发展思路,严格落实各项措施,较好地纠正了节能减排工作中容易发生的错误倾向。促进了全面建设的稳步提高。     

预应力CFRP筋T形梁受弯性能试验及变形分析

试验通过对3根T形预应力CFRP筋混凝土梁和1根矩形预应力CFRP筋混凝土梁进行对比,考察了预应力CFRP筋混凝土梁的受弯工作性能,记录了试验梁的开裂荷载、极限荷载和裂缝发展情况。试验结果表明：增加预应力度和总配筋率对提高开裂荷载,限制挠度、裂缝发展起重要作用;相同配筋的T形梁和矩形梁挠度相近,但各阶段荷载不同。对预应力CFRP筋T形梁的变形性能进行了理论分析,推导了短期荷载作用下刚度和挠度的计算公式,并将计算值与试验值进行比较,两者吻合良好。     

随机系统扇形极点和方差约束状态反馈控制

区域极点和稳态方差是表征控制系统性能的两个重要指标,通过把扇形区域极点指标和稳态方差指标融入到一个修正的Lyapunov方程,研究了扇形区域极点和稳态方差上界约束下的状态反馈控制问题.利用矩阵广义逆和矩阵分解的方法得到了扇形区域极点和稳态方差可配置条件以及控制器的求取方法,所得控制器表达式中含有自由参数,便于控制器的工程实现,也为选取控制器的自由参数来使控制系统满足更多的性能指标留下了余地.     

基于能力的装备体系作战试验效能指标框架设计

针对装备体系作战试验效能指标设计问题,提出一种基于能力的作战效能指标框架设计方法.在对装备体系作战能力与作战效能指标进行分析的基础上,通过能力建立作战任务与装备体系间的抽象关系,按照作战能力需求分析、被试装备体系构建、效能指标框架建立、效能指标体系分解四个环节,对基于能力的装备体系作战试验效能指标框架设计过程和方法思路进行了阐述.陆军数字化合成部队装备体系作战试验情报侦察效能指标体系设计实例表明,该框架具有较强的操作性与实用性.     

基于阵列式探测器的舰载高能激光武器动态精度试验方法研究

对高机动目标的跟踪、瞄准精度是舰载高能激光武器系统的重要性能指标之一,也是未来装备状态鉴定和列装定型工作的主要考核项目。以舰载高能激光武器为研究对象,系统分析了其动态精度试验的技术特点,在此基础上,针对其跟踪瞄准精度要求高的实际问题,提出了基于阵列式探测器的试验和数据处理方法,能够有效完成对舰载高能激光武器动态精度的试验与评估。     

美军轻型侦察车试验方法

美军轻型侦察车是网络中心战装备的重要组成部分,其试验属于网络革新和试验中心开展的网络试验一部分。试验主要分为三个阶段进行,试验过程紧密结合试验想定内容,分别对组成单元、分系统的技术性能进行测试评估,同时验证战术使用效果。美军网络战装备系统试验思路,是一种可以借鉴的理论方法。     

加速寿命试验下复合失效产品的可靠性评估

产品往往受随机失效和耗损失效两种模式的双重影响,通过构建复合寿命分布模型来表征这类产品失效规律。在加速寿命试验下,基于极大似然估计构造了该类产品寿命参数估计的数值算法;为了验证该寿命分布是否真服从假定的复合分布,构建了常应力等效失效数据的柯尔莫哥诺夫分布检验法;最后,以电连接器这一典型产品为例进行了工程仿真试验并进行数据评估,从而验证了评估方法的正确性。     

南非海军试验“矛枪”SAM系统

南非海军已经成功地在其第一艘“勇士”级护卫舰上对“Umkhonto”(矛枪)直发射防空导弹系统进行了海上验收试验。作为作战系统试验系列的一部分,从SAS Amatola发射了两枚遥测导弹。导弹发射于2005年11月23日和28日进行,两枚导弹都成功地击落了低空“贼鸥”目标。导弹沿不同的轮     

基于加速寿命试验的晶体管静电放电潜在性失效的研究

对高频小功率硅双极结型晶体管2SC3356进行静电放电试验,并利用加速寿命试验原理对两组器件进行加速寿命试验。采用Arrhenius模型对试验结果进行计算分析,发现低于损伤阈值的ESD注入可以使器件的寿命缩短,得出ESD可以在高频小功率硅双极结型晶体管内部造成潜在性失效,使得器件寿命缩短。