影响听力测试的几个因素

本文根据多年教学实践,探讨了英语听力教学的状况,分析了影响听力理解在测试中的外在及内在因素,并提出了可行性的建议。     

用于超宽带引信目标回波模拟的窄脉冲电路设计

超宽带引信目标回波模拟器是对超宽带引信进行成批、快速测试的有效手段,而超宽带窄脉冲产生电路的设计是其关键技术之一。目前的窄脉冲产生电路多是针对高斯脉冲或者双极高斯脉冲所设计,不能直接用于回波模拟器窄脉冲的产生。在球形目标回波假设的前提下,提出了一种使用阶跃恢复二极管(SRD)和超宽带滤波器联合设计产生二阶高斯脉冲信号对引信回波进行模拟的方法。通过仿真确定了SRD电路参数、超宽带滤波器的性能指标及其尺寸,根据仿真结果实现了窄脉冲产生电路。测量结果表明,所产生的窄脉冲信号波形与理论波形基本一致。     

北京航天测控技术开发公司

北京航天测控技术开发公司成立于1982年,直属于中国航天科工集团作为“中国航天科工集团测控中心”、“中国航天科工集团武器装备测试与综合保障技术中心”以及国防科技工业自动化测试技术研究应用中心”,主要承担着国防军工领域测控装备和维修保障信息化装备的研发与生产任务。     

武器系统软件靶场测试方法

从软件测试在软件开发过程中的作用出发,阐述了软件测试在武器系统研制试验与鉴定过程中的重要地位,指出武器系统在靶场进行试验过程中,对武器系统软件进行系统测试的重要性。根据靶场的实际条件和武器系统在靶场进行试验时武器系统软件具有的特点,基于现代软件测试理论和软件测试方法,研究探讨了在靶场这一特殊的环境下对武器系统软件进行系统测试的试验方法和进行测试的系统步骤,对武器系统软件的靶场测试具有重要的指导意义。     

杀伤爆破弹在反坦克作战中的应用

分析了坦克装甲防护系统与反坦克武器系统的现状和发展趋势,提出了以杀伤爆破弹反坦克的思想,分析了杀伤爆破弹反坦克的可行性和毁伤机理,并通过试验进行了验证,提出了测试杀爆弹的破片和冲击波综合毁伤效果的方案,对我军反坦克武器的发展具有一定的借鉴意义。     

火控系统动态精度环绕测试设计方法

借鉴环绕BIT技术的思想,提出一种火控系统动态精度环绕测试的设计方法.该方法充分利用火控计算机的固有资源,通过增加少量接口转换电路(一组现在点坐标输出接口和一组射击诸元输入接口),来提高火控系统动态精度检查测试性水平.对于采用环绕测试设计的火控系统,只需使用两根外接电缆,无须外接检测计算机,即可完成动态精度检查的任务,从而显著降低了操作复杂性.该设计方法的一个优点是不会影响系统的可靠性.     

统计测试无失效软件的贝叶斯方法可靠性估计

本文讨论了在净室软件工程方法指导下开发的软件系统在统计测试无失效发生时,利用贝叶斯方法并结合软件结构特征,估计软件失效概率的多种处理方法,并用数值方法讨论了软件无失效测试终止的标准。     

基于以太网通信的脉冲变换器测试系统设计

针对遥测设备脉冲变换器功能检测的需求,设计了基于以太网通信的脉冲变换器测试系统。采用现场可编程门阵列(FPGA)作为测试系统的核心控制器,通过对各功能模块的时序控制,完成多路信号源的产生和变换器工况数据接收的任务。通信模块采用以太网协议芯片W5300。相比传统的USB总线,W5300具有硬件电路简单、传输速率快且信号稳定的优点。整个系统运用模块化和软件化的设计思想,提高了测试的灵活性和自检纠错能力,能可靠实时检测变换器的性能状况,成为国防航天设备研发中不可缺少的一环。     

基于BIST的3D SRAM中TSV开路测试算法研究与实现

基于3D-IC技术实现的3D SRAM,其电路中使用了大量的TSV。目前TSV制造工艺尚未成熟,使得TSV容易出现开路或短路故障,从而给3D SRAM的测试带来新的挑战。现有的2D BIST测试方式能够探测到3D SRAM中存在的故障,但并不能判定是TSV故障还是存储器本身故障;TSV专用测试电路虽然能够探测出TSV的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计复杂度。基于此,本文提出了一种使用测试算法来探测TSV开路故障的方法,在不使用TSV专用测试电路且不增加额外面积开销的情况下通过BIST电路解决3D SRAM中TSV的开路故障检测问题。结果显示该TSV测试算法功能正确,能够准确探测到TSV的开路故障,并快速定位TSV的开路位置。     

基于免疫粒子群文化算法的数字电路故障诊断

为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。