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211.
小波方法在滚动轴承振动信号分析中的应用   总被引:3,自引:0,他引:3  
通过分析滚动轴承表面损伤类故障信号的特点,提出了基于小波包分解和信号重构技术的滚动轴承故障精密诊断方法.试验表明,该方法是有效的,适用于滚动轴承早期故障的振动监测和诊断.  相似文献   
212.
信息技术在弹药和武器系统中的广泛使用,使得精确打击能力、目标识别能力、作战效能大大提高。然而自伊拉克战争开战以来,美英联军的高技术武器不时失误,误伤、自伤事件接连不断。精确制导武器偏离目标——GPS制导炸弹落入伊朗,误伤平民;攻击伊军的巡航导弹竟落入伊朗、土耳其境内;美军爱国者导弹击落英国“旋风”战斗机;美军F-16战斗机摧毁自己的爱国者导弹系统的雷达;英军挑战者坦克自相残杀;美A-10A攻击机攻击英军地面部队的人员……。这些失误暴露出了这些武器弹药自身存在的技术问题,以及操作人员的失误。它不仅降低了这些武器弹药…  相似文献   
213.
研究表明,软件中残留的故障一般都是难以测试,这些故障往往都是局部的、检测概率比较“小”的故障,也就是说,和正确的软件相比,这些故障的表现往往只是一个或几个符号发生错误,现提出的软件单故障模型正是基于这个原理。测试方法是以面向故障为基础,将故障的检测分为3个部分:故障语句的执行,故障的激活和故障的传播。为加速测试用例的生成,也同时提出了软件的故障模拟方法。最后,给出了部分实验结果。  相似文献   
214.
软件测试方法综述   总被引:1,自引:0,他引:1  
论述了软件测试技术近几年来研究的最新成果。包括软件的故障模型、白盒测试技术、黑盒测试技术、人工测试技术、可靠性测试技术和测试性设计技术等。以作为对近十几年来软件测试技术发展的总结,还初步的探讨了软件测试技术今后的发展。  相似文献   
215.
画圈的启示     
美国福特公司一台大型电机发生故障,所有工程师束手无策,最后请来一名德国工程师。他绕着电机走了几圈,听了听声音,然后用粉笔在电机上画了一个圈,对所有人说,“打开,把这里的线圈减少16圈”。结果,故障排除了。事后,德国工程师索要3万美元报酬。福特公司提出疑问,为什么画一个圈居然索价这么高?德国工程师回答,画一个圈1美元,知道在哪里画圈29999美元。  相似文献   
216.
基于灰色非线性回归模型的故障预测   总被引:1,自引:0,他引:1  
为克服传统灰色模型的局限性,通过对一阶累加生成序列规律性的分析,将灰色模型和非线性回归模型相结合,构造了一种灰色非线性回归模型。实例仿真结果表明,该模型既拓展了传统灰色模型的适用条件,又比传统灰色模型和非线性回归模型具有更高的预测精度,且适用性广。  相似文献   
217.
故障模式与影响分析技术及其应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
故障模式与影响分析技术(FMEA)是一种可靠性设计的重要方法,它对各种可能的风险进行评价、分析,以便在现有技术的基础上消除这些风险或将这些风险减小到可接受的水平。本文介绍了FMEA的目的、作用以及基本思想,对FMEA的工作程序及注意事项进行了探讨。  相似文献   
218.
基于多信号模型的装甲车辆电源系统诊断策略   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对装甲车辆电源系统模块失效和信号失效不统一的特点,提出了一种多信号模型的改进方法,在此基础上,通过电源系统故障模式影响分析,建立了电源系统测试性模型。基于故障熵理论,利用诊断信息量和费用优化的启发式函数,确立了系统的诊断策略。计算结果表明:该方法对诊断策略的优化是有效的。该方法对装甲车辆电源系统诊断策略的研究具有一定参考意义。  相似文献   
219.
永磁体退磁故障是永磁电机的常见故障,对电机退磁故障进行早期检测和诊断可以有效防止灾难发生,具有重大意义。建立不均匀退磁故障状态下的Maxwell2D电机模型,利用仿真软件Maxwell2D与Simplorer构建永磁同步电机联合仿真系统,分别对电机的正常状态模型与退磁故障模型进行仿真,并对相电流信号进行分析。利用EMD-LSSVM变换建立的故障诊断模型对不同程度的退磁故障进行诊断。仿真结果表明:该模型可以精确地识别出微弱的退磁故障,验证了联合仿真退磁模型的正确性。  相似文献   
220.
基于三维集成电路技术实现的三维静态随机存储器,其电路中使用了大量的过硅通孔。目前过硅通孔制造工艺尚未成熟,使得过硅通孔容易出现开路或短路故障,从而给三维静态随机存储器的测试带来新的挑战。现有的过硅通孔专用测试方式虽然能够探测出过硅通孔的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计的复杂度。因此,提出一种使用测试算法来探测过硅通孔开路故障的方法。在不增加额外面积开销的情况下,通过内建自测试电路解决三维静态随机存储器中过硅通孔的开路故障检测问题。结果显示,该过硅通孔测试算法功能正确,能够准确探测到过硅通孔的开路故障,并快速定位过硅通孔的开路位置。  相似文献   
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