首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   515篇
  免费   44篇
  国内免费   27篇
  2024年   1篇
  2023年   9篇
  2022年   7篇
  2021年   10篇
  2020年   23篇
  2019年   4篇
  2018年   1篇
  2017年   11篇
  2016年   19篇
  2015年   16篇
  2014年   26篇
  2013年   24篇
  2012年   38篇
  2011年   29篇
  2010年   35篇
  2009年   30篇
  2008年   40篇
  2007年   24篇
  2006年   25篇
  2005年   22篇
  2004年   31篇
  2003年   17篇
  2002年   13篇
  2001年   24篇
  2000年   15篇
  1999年   19篇
  1998年   16篇
  1997年   10篇
  1996年   9篇
  1995年   6篇
  1994年   10篇
  1993年   7篇
  1992年   4篇
  1991年   8篇
  1990年   3篇
排序方式: 共有586条查询结果,搜索用时 15 毫秒
471.
近日,笔者从某部获悉,他们通过心理测试为每名官兵建立了心理档案。悄然而来的心理测试和心理档案,激起了官兵心理健康维护工作的阵阵涟漪,更科学、更人性化的管理教育模式正在改变着官兵的寻常生活。  相似文献   
472.
针对大型跟踪系统在某些特定场合不适用的问题,设计了一种集视频采集、目标捕获、识别与跟踪、云台随动控制、无线电台通信、远端预警点火等多功能于一体的导弹近程防御预警点火系统.上位机采用双DSP处理器设计结构,应用波门和相关两种方式跟踪算法,以及三段式云台伺服控制方式确保了系统的跟踪适应能力.下位系统采用LPC936单片机系统完成远端通信和中断点火控制.经实验测试,系统达到预定指标.  相似文献   
473.
建设国防科技工业自动化测试技术研究应用中心。是我国国防工业科技创新机制的一种探索。旨在通过产.学、研互动合作机制。在自动化测试技术领域。充分利用已有的技术和资源。打破行业间、企业间的技术分割,实现优势互补和资源共享,使研究与应用结合得更加紧密,逐步建立起我国自动化测试技术转化推广应用的大平台。  相似文献   
474.
在对边界扫描及簇测试技术研究的基础上,以边界扫描测试总线控制器芯片为核心设计实现了一个簇测试系统,选择W-A的GNS算法对所设计的测试系统进行了簇测试实例验证.实验结果表明,该测试系统能够快速准确地检测出被测系统的固定逻辑故障和短路故障.  相似文献   
475.
为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。  相似文献   
476.
<正>勤动脑筋不惜力,早晚必会成大器。1985年,孔令择从湖南工程学院电器专业毕业后进入五分厂,从事设备的综合测试及总装测试仪器的维修等工作。从上班的那天起,他就养成了一系列良好的习惯:每天工作后做笔记、记录设备出现故障的原因、设备是怎样修好的等内容……至今他已经记录了100多万字的工作笔记。  相似文献   
477.
<正>本文探讨了数字化检验应用在装备质量监督中的优点、存在的问题,并从改进军代表办公环境、注重装备测试性研究、加强对数字化军检运用的探索等三个方面提出了展望。当前,社会正以空前快速的步伐迈向信息时代,信息时代最大的特征就是几乎所有的信息都可以被转化为可被计算机识别和处理的"1"和"0"代码进行管理。因此,信息时代又被称为数字化时代。作为武器装备质量监督和检验验收这个技  相似文献   
478.
忆阻器是近年来发现的一种新型无源电路元件,具有非易失记忆特性,且在开关性能和工艺尺寸等多方面具有优势,可能成为IT技术新的物理基础。本文概述了忆阻器的研究意义,详细介绍了忆阻器的定义与发展历程,着重从器件制备、表征测试、基于忆阻器的新型计算系统应用等三个方面综述总结了国内外发展现状,并对忆阻器未来发展所面临的挑战进行了展望。研究表明,忆阻器相关研究将为突破冯诺依曼计算机构的限制,研究下一代计算系统奠定扎实的器件与架构基础。  相似文献   
479.
基于3D-IC技术实现的3D SRAM,其电路中使用了大量的TSV。目前TSV制造工艺尚未成熟,使得TSV容易出现开路或短路故障,从而给3D SRAM的测试带来新的挑战。现有的2D BIST测试方式能够探测到3D SRAM中存在的故障,但并不能判定是TSV故障还是存储器本身故障;TSV专用测试电路虽然能够探测出TSV的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计复杂度。基于此,本文提出了一种使用测试算法来探测TSV开路故障的方法,在不使用TSV专用测试电路且不增加额外面积开销的情况下通过BIST电路解决3D SRAM中TSV的开路故障检测问题。结果显示该TSV测试算法功能正确,能够准确探测到TSV的开路故障,并快速定位TSV的开路位置。  相似文献   
480.
针对无线传感网络中高效路由协议的设计问题,基于传感器节点的剩余能量提出一种分时分簇的改进LEACH算法。算法通过分时分簇方式,有效克服了传统LEACH算法中簇首数目不稳定的缺陷,且不会额外增加网络的能耗,使得簇首在整个网络中的分布以及网络的能量消耗更加均衡,有效延长了传感器网络的正常工作时间。仿真实验验证了改进算法的有效性。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号