火控系统动态精度环绕测试设计方法

借鉴环绕BIT技术的思想,提出一种火控系统动态精度环绕测试的设计方法.该方法充分利用火控计算机的固有资源,通过增加少量接口转换电路(一组现在点坐标输出接口和一组射击诸元输入接口),来提高火控系统动态精度检查测试性水平.对于采用环绕测试设计的火控系统,只需使用两根外接电缆,无须外接检测计算机,即可完成动态精度检查的任务,从而显著降低了操作复杂性.该设计方法的一个优点是不会影响系统的可靠性.     

油库设备更新决策年平均成本方法及应用

基于年平均成本方法,结合军队油库实际,提出了油库设备经济寿命和大修更新决策模型。该模型描述了年均总成本与油库设备原值、残值、折旧方式、利率、经济寿命、运行成本等因素的关系,并运用该模型和成本最小化原理判断油库更新决策的合理时机。计算结果表明：油库设备更新决策模型是合理可靠的。最后,指出了油库设备更新决策应考虑的几个因素,这为油库设备实现价值化管理提供了依据。     

卫星地面站设备配置效能评价指标体系研究

对资源配置效能进行评价是系统分析与评价中的难题。本文从评价目的出发,结合实际问题,建立了卫星地面站系统设备配置方案评价的指标体系,提出把 Delphi法与 AHP 法相结合确定指标权重的方法,给出了各指标的具体计算方法和指标的规范化处理方法。实际应用表明所建立的指标及指标体系是有效的和可靠的。     

统计测试无失效软件的贝叶斯方法可靠性估计

本文讨论了在净室软件工程方法指导下开发的软件系统在统计测试无失效发生时,利用贝叶斯方法并结合软件结构特征,估计软件失效概率的多种处理方法,并用数值方法讨论了软件无失效测试终止的标准。     

FFF02型防毒服改进-阻燃炭布试制报告

根据FFF02型防毒服改进研制要求,试制薄型阻燃炭布,在保持FFF02型防毒服内层材料115型阻燃炭布各项基本性能的基础上,采用新的原材料、新的喷炭配方和工艺,综合提高炭布的使用性能．通过试验,研究高吸附性能活性炭、黏合剂、炭浆配方以及阻燃绒布等材料对炭布性能的影响,为FFF02型防毒服改进研制打下良好的基础．     

微波、超短波自适应干扰抵消器的实现

本文提出了一种采用正交通道自适应干扰抵消器方案,对方案的算法进行了讨论,在54～86MHz范围内进行了干扰抵消器硬件实现,达到了较高的抵消比。     

基于以太网通信的脉冲变换器测试系统设计

针对遥测设备脉冲变换器功能检测的需求,设计了基于以太网通信的脉冲变换器测试系统。采用现场可编程门阵列(FPGA)作为测试系统的核心控制器,通过对各功能模块的时序控制,完成多路信号源的产生和变换器工况数据接收的任务。通信模块采用以太网协议芯片W5300。相比传统的USB总线,W5300具有硬件电路简单、传输速率快且信号稳定的优点。整个系统运用模块化和软件化的设计思想,提高了测试的灵活性和自检纠错能力,能可靠实时检测变换器的性能状况,成为国防航天设备研发中不可缺少的一环。     

雾霭图像实时处理算法加速策略

为仿真前视红外导引头实时匹配导引过程,完成目标实时跟踪性判断,针对限制对比度自适应直方图均衡和归一化互相关算法开展加速策略研究,提出基于统一计算设备架构(Compute Unified Device Architecture, CUDA)的雾霭图像实时处理加速方案,并进行设计参数寻优,得出线程块、线程网格设计参数存在最优尺寸,需实验测定的结论。实验结果表明,引入CUDA加速优化后,较未进行CUDA加速前时间指标提高5~20倍,能够满足目标跟踪实时性要求,可为红外导引头目标实时跟踪系统设计提供参考。     

基于标记配对相干态光源的测量设备无关量子密钥分配

为提升量子密钥分配的性能,基于标记配对相干态光源,提出了一种四强度诱骗态测量设备无关量子密钥分配方案。首先,利用光源的双模态特性和光子数标记技术来提升传输性能,推导了单光子对计数率下限和误码率上限的计算公式;然后,考虑统计波动,分析了数据长度有限对方案性能的影响。数值仿真结果表明:基于标记配对相干态光源的测量设备无关量子密钥分配方案在安全传输距离和密钥生成效率上都优于现有基于弱相干态光源和预报单光子源的测量设备无关量子密钥分配方案;在统计波动条件下,方案性能会随着数据长度的减少而降低,但即使数据长度减少到10~(10),基于标记配对相干态光源的测量设备无关量子密钥分配方案的最大传输损耗容忍度仍可达36 dB,优于现有的其他方案。     

基于BIST的3D SRAM中TSV开路测试算法研究与实现

基于3D-IC技术实现的3D SRAM,其电路中使用了大量的TSV。目前TSV制造工艺尚未成熟,使得TSV容易出现开路或短路故障,从而给3D SRAM的测试带来新的挑战。现有的2D BIST测试方式能够探测到3D SRAM中存在的故障,但并不能判定是TSV故障还是存储器本身故障;TSV专用测试电路虽然能够探测出TSV的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计复杂度。基于此,本文提出了一种使用测试算法来探测TSV开路故障的方法,在不使用TSV专用测试电路且不增加额外面积开销的情况下通过BIST电路解决3D SRAM中TSV的开路故障检测问题。结果显示该TSV测试算法功能正确,能够准确探测到TSV的开路故障,并快速定位TSV的开路位置。