弹药破片场效能的模拟

分析研究了弹药破片对目标的毁伤机理并用多维向量描述了破片场的组成。破片场的分布研究是进行破片场模拟的基础,提出了基于统计数据和理论分析的破片场分布研究方法,建立了相应的破片场模拟数学模型。通过仿真验证,这种以破片场计算、抽样模拟两部分组成的弹药破片场模拟方法是可行的,而且这种方法对于弹药其他的效能单元模拟具有指导意义。     

环肋轴对称组合壳塑性极限分析的弹性模量调整有限元方法

基于轴对称截锥壳单元,以单元横截面峰值应力为等效应力,建立了弹性模量调整有限元方法,应用Fortran语言编制了有限元软件用于计算环肋轴对称组合壳的塑性极限载荷.该方法根据组合壳的应力分布情况调整轴对称壳单元和肋骨单元的弹性模量,并进行一系列的弹性迭代计算,计算收敛后即可以得到环肋轴对称组合壳的塑性极限载荷.通过对算例的计算证明:该方法具有良好的收敛性和较高的效率,计算结果与试验结果吻合较好.     

基于空间时频分布的欠定DOA估计

波达方向（DOA）估计是阵列信号处理领域的热点问题,但经典的DOA估计方法通常要求阵元数大于源信号个数,即满足超定条件。而在实际中往往面临的是源信号个数大于阵元数目的欠定条件。提出了一种基于空间时频分布的MUSIC扩展算法,该算法通过将空间时频分布矩阵进行拓展,实现了欠定条件下的DOA估计。相比时频MUSIC算法,该算法能同时适应超定和欠定条件;相比已有的欠定DOA估计方法,该算法在保证DOA估计精度的情况下,放宽对源信号稀疏性的要求,同时降低对快拍数的要求。仿真实验结果表明了本文算法的有效性。     

无信息先验下几种不同Bayes估计的比较

讨论了在二项分布场合关于成功率的不同无信息先验分布下的Bayes估计 ,并从Bayse风险的角度对它们进行了比较     

早期可靠性数据的统计分析及其应用

在大型复杂产品研制过程中,通过原理样机的各类试验所获得的早期可靠性数据对产品早期可靠性的评估及可靠性设计具有重要意义。文中利用顺序约束模型研究了早期可靠性数据的处理方法,并将早期可靠性数据评估结果应用于可靠性增长计划的制定,从而有效减短了可靠性增长试验的时间。最后,给出了一个实际例子,以说明上述方法的应用。     

基于网格的分布交互仿真在广域网的实现方法

广域网环境下以HLA/RTI为底层支撑的仿真应用节点之间难以实现仿真数据的交互,介绍了一种基于网格技术的广域网分布交互仿真的实现方法.设计了RTI服务资源实例工厂类,并根据RTI软件的接口特点使用WS-Notification机制实现RTI接口功能的回调:并使用GT4.0工具集实现了pRTI的服务封装和部署,最后给出了...     

具有参数漂移特征的退化可靠性评估方法

针对具有参数漂移特征的产品,首先采用随机扩散理论描述其参数漂移规律,并建立了参数漂移模型.在此基础上,提出了将参数漂移模型预测与产品寿命分布拟合相结合的可靠性评估方法,即利用参数漂移模型对产品不同时刻的可靠度进行预测,通过适当增加产品可靠性预测点,拟合产品的寿命分布,进而获得产品的可靠性评估结果.该方法充分利用产品参数漂移规律和产品寿命分布规律,可有效提高产品可靠性评估精度.最后,通过实例比较,验证了该方法的可行性和有效性.     

韦布尔干扰中有序统计平均恒虚警检测器性能

证明了形状参数已知条件下有序统计平均恒虚警检测器在韦布尔分布杂波背景下具有恒虚警性能,推导了该背景下OSCA-CFAR检测器对非起伏目标的检测概率Pd和平均判决阈值的解析表达式,用数值方法讨论了尺度参数和序值变化对检测性能的影响,最后分析了多目标情况下该检测器的性能,并于有序统计进行了比较,分析结果表明OSCA在多目标环境下具有较好的检测性能.     

基于退化量分布的某型电连接器寿命预测方法

使用基于退化量分布的方法对某型电连接器进行了寿命预测,得到了其可靠度曲线并预测出其平均寿命为398 895 h。通过对各加速应力水平下所有样品的退化量进行拟合优度检验,得出退化量在各测量时刻最优服从正态分布,进而确定了退化量均值、方差与温度应力之间的关系。为了提高估计精度,使用极大似然法进行整体统计推断获取未知参数的估计值,并基于参数值与温度的关系外推出样品在工作温度下的可靠度函数。通过可靠度曲线的比较,获知样品寿命较好地服从对数正态分布,并基于此进行了平均寿命预测。     

泊松分布的错误图样对纠错码译码性能的影响

为了在"比特级"层面对纠错码进行更深入的研究,提出了一种服从泊松分布的错误图样分布模型。通过一定的方法产生符合泊松分布特性的二进制序列,并使"1"的数目在整个序列中可控,以此来产生所需的错误图样。同时,以卷积码、RS码以及RS+卷积级联码为研究对象,以随机错误为参照,分别分析了该错误图样下三者的译码性能。仿真结果表明,基于泊松分布的错误图样对卷积码和级联码的影响要大于随机错误图样,而随机错误图样对RS码的影响更大。