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511.
512.
针对欺骗干扰信号难以有效实时模拟真实卫星信号空间分布特性的特点,本文提出了利用双天线载波相位差进行欺骗信号检测的方法。在已知接收机天线阵基线以及姿态条件下,同一路信号在两副天线上表现出的相位差与天线基线长度与信号入射相关。而信号入射角是空间信号的物理传播特性,欺骗干扰源无法通过数字方式改变。以通过卫星星历获取所跟踪卫星的精确位置为先验信息,即可确定真实信号在已知天线阵上的载波相位差,从而实现对欺骗信号的有效检测。本文分析了载波相位差计算的各种误差源,并在此基础上建立了针对欺骗信号的二元假设检验。最后,通过理论分析和仿真实验,验证了本文提出的欺骗信号检测技术的有效性,并得出了天线阵基线越长、入射方位角越小,载波相位差检测技术对欺骗信号的检测性能越优的结论。 相似文献
513.
基于3D-IC技术实现的3D SRAM,其电路中使用了大量的TSV。目前TSV制造工艺尚未成熟,使得TSV容易出现开路或短路故障,从而给3D SRAM的测试带来新的挑战。现有的2D BIST测试方式能够探测到3D SRAM中存在的故障,但并不能判定是TSV故障还是存储器本身故障;TSV专用测试电路虽然能够探测出TSV的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计复杂度。基于此,本文提出了一种使用测试算法来探测TSV开路故障的方法,在不使用TSV专用测试电路且不增加额外面积开销的情况下通过BIST电路解决3D SRAM中TSV的开路故障检测问题。结果显示该TSV测试算法功能正确,能够准确探测到TSV的开路故障,并快速定位TSV的开路位置。 相似文献
514.
针对欺骗干扰信号难以有效实时模拟真实卫星信号空间分布特性的特点,提出利用双天线载波相位差进行欺骗信号检测的方法。分析载波相位差计算的各种误差源,并在此基础上建立针对欺骗信号的二元假设检验。通过理论分析和仿真实验,验证了所提欺骗信号检测技术的有效性,并得出了天线阵基线越长、入射方位角越小,载波相位差检测技术对欺骗信号的检测性能越优的结论。 相似文献
515.
516.
为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力,提升种群进化的多样性,将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法;为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间,将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比,结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率,缩短测试生成时间,在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。 相似文献
517.
518.
陆军导弹武器系统测试性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
针对陆军导弹武器系统的特点,论述了系统测试性和系统测试性设计的基本概念,在解释它们内涵的同时,说明了如何从本质上理解它们在导弹武器系统全寿命周期中的重要作用。为了保持系统的良好测试性,从定量和定性两个方面提出了测试性设计的基本要求,研究了提高系统测试性的主要方法。 相似文献
519.
Linxiong Li 《海军后勤学研究》2000,47(6):521-530
Suppose that some components are initially operated in a certain condition and then switched to operating in a different condition. Working hours of the components in condition 1 and condition 2 are respectively observed. Of interest is the lifetime distribution F of the component in the second condition only, i.e., the distribution without the prior exposure to the first condition. In this paper, we propose a method to transform the lifetime obtained in condition 1 to an equivalent lifetime in condition 2 and then use the transformed data to estimate F. Both parametric and nonparametric approaches each with complete and censored data are discussed. Numerical studies are presented to investigate the performance of the method. © 2000 John Wiley & Sons, Inc. Naval Research Logistics 47: 521–530, 2000 相似文献
520.