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红外焦平面阵列探测器广泛应用于红外成像制导系统。但焦平面阵列的非均匀性校正技术与探测器的性能息息相关 ,因此必须进行非均匀性校正。在众多非均匀校正方法中 ,两点法和时间高通自适应方法是两种最典型的方法。文中对这两种方法分别进行了分析 ,并对一般的时间高通自适应非均匀校正法提出了改进 ,以达到更好的校正效果 相似文献
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