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291.
Within a reasonable life‐testing time, how to improve the reliability of highly reliable products is one of the great challenges to today's manufacturers. By using a resolution III experiment together with degradation test, Tseng, Hamada, and Chiao (1995) presented an interesting case study of improving the reliability of fluorescent lamps. However, in conducting such an experiment, they did not address the problem of how to choose the optimal settings of variables, such as sample size, inspection frequency, and termination time for each run, which are influential to the correct identification of significant factors and the experimental cost. Assuming that the product's degradation paths satisfy Wiener processes, this paper proposes a systematic approach to the aforementioned problem. First, an intuitively appealing identification rule is proposed. Next, under the constraints of a minimum probability of correct decision and a maximum probability of incorrect decision of the proposed identification rule, the optimum test plan (including the determinations of inspection frequency, sample size, and termination time for each run) can be obtained by minimizing the total experimental cost. An example is provided to illustrate the proposed method. © 2002 Wiley Periodicals, Inc. Naval Research Logistics 49: 514–526, 2002; Published online in Wiley InterScience (www.interscience.wiley.com). DOI 10.1002/nav.10024  相似文献   
292.
A system reliability is often evaluated by individual tests of components that constitute the system. These component test plans have advantages over complete system based tests in terms of time and cost. In this paper, we consider the series system with n components, where the lifetime of the i‐th component follows exponential distribution with parameter λi. Assuming test costs for the components are different, we develop an efficient algorithm to design a two‐stage component test plan that satisfies the usual probability requirements on the system reliability and in addition minimizes the maximum expected cost. For the case of prior information in the form of upper bounds on λi's, we use the genetic algorithm to solve the associated optimization problems which are otherwise difficult to solve using mathematical programming techniques. The two‐stage component test plans are cost effective compared to single‐stage plans developed by Rajgopal and Mazumdar. We demonstrate through several numerical examples that our approach has the potential to reduce the overall testing costs significantly. © 2002 John Wiley & Sons, Inc. Naval Research Logistics, 49: 95–116, 2002; DOI 10.1002/nav.1051  相似文献   
293.
讨论了某型航空电子设备的数据记录系统的设计与实现 ,主要探讨了此系统的软、硬件开发 ,系统组成及其信息流。系统采用了 ARINC4 2 9总线和并行总线 ,将各个子系统连接起来 ,实现数据的综合处理、综合控制、综合传输 ,在实际应用中收到了很好的效果  相似文献   
294.
坚持从严治党,必须建设一支高标准的领导干部队伍,把好新任领导干部的选拔任用关.同时,要认真做好在职领导干部的管理监督工作,做到思想政治教育到位,强化党内监督到位,组织协调配合到位,制度建设落实到位.  相似文献   
295.
依据现代高技术战争的特征和装备保障需求 ,分析了加强技术保障装备建设的重要性及必要性 ,阐述了当前技术保障装备发展的基本趋势和特点 ,提出了系统配套 ,协调发展 ,构建我军完备的技术保障装备体系的基本思路  相似文献   
296.
针对X频段在地面警戒雷达中的应用问题,在频段优势、对抗能力、机动能力方面,对X频段地面警戒雷达作了详细分析,同时论述了它在噪声背景和杂波背景下的性能、探测能力、系统特性,并提出了应采取的技术措施.通过实例表明该频段雷达具有一定的探测能力和抗干扰能力.  相似文献   
297.
为获得最佳铝热焊接工艺参数,对拉伸试件进行了正交试验和二次通用旋转组合试验,研究预热温度、加压时间和预留焊缝3因素对接头强度的影响,进而寻求一组使焊接接头强韧性最高的焊接工艺参数组合。利用电子显微镜等对试件拉伸断口进行了分析,通过对比2种开始加压时间下试件的显微组织和性能,研究了这2种方法对接头强韧性的影响。结果表明:采用设计的铝热焊接试验装置和优化出的随焊加压致密化工艺参数,可使焊接接头获得大变形组织,从而获得高的强度和韧性。该项研究可为提高铝热焊接质量提供基础数据。  相似文献   
298.
文中提出了一种针对16A PSK信号的非数据辅助的载波残余频偏估计算法。该算法以判决后星座点的相位偏转量与判决符号数之间的数学关系为依据,通过对16APSK星座判决区域进行优化,并结合FFT方法求解相位偏转量的周期得以实现。仿真分析表明,在不同的信噪比条件下该算法通过选择适当的估计长度能快速完成高精度的频偏估计。  相似文献   
299.
如何运用科学的手段选择正确的风险控制策略,是试验装备采办风险控制是否成功的关键和基础。针对试验装备采办风险控制进行了研究,分析了试验装备采办风险控制策略,建立了基于案例模糊推理的试验装备采办风险策略选择模型,研究结论有利于更好地识别和规避试验装备采办风险,提高试验装备采办效率。  相似文献   
300.
针对传统引信湿热试验的缺点,以某型引信的电子头组件为研究对象,开展了引信的湿热强化试验技术研究。首先分析了湿热强化应力对缺陷的激发效果,即温度和湿度越高,对缺陷的激发效果越好。在此基础上,设计了湿热强化试验方案,并通过试验,暴露了电子头组件的薄弱环节,为提高其环境适应性奠定了基础,同时体现了湿热强化试验在激发引信潜在缺陷、缩短试验周期和降低试验费用方面的优势。还根据试验的反馈信息,对试验方案进行了优化。  相似文献   
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