改进ADC方法及其在武器装备系统效能评估中的应用

在分析武器装备系统效能特点的基础上,针对装备定型试验的应用需求,提出一种改进可用性-可信性-能力法,以解决传统方法在系统状态划分上无法准确全面描述武器装备实际可用性的问题。提出增加中间状态的策略,对效能综合计算模式、状态描述与计算方法、状态转移计算方法和能力计算方法做整体改进,在此基础上开发了支撑软件SEEK。并以某型主战坦克系统效能评估为例,验证了该方法的可行性和有效性。     

返回舱着陆工况对着陆冲击特性的影响

返回舱着陆工况对冲击响应特性有很大影响。建立了返回舱着陆冲击仿真分析模型,并利用已有试验数据对模型进行验证。通过显式非线性动力学分析方法模拟了返回舱着陆冲击过程,利用正交试验设计法进一步分析了返回舱着陆工况相关参数对冲击响应特性的显著性影响情况及其规律。结果表明:竖直速度、俯仰角、侧倾角及其因子间的交互效应对最大加速度的影响显著,水平速度和滚动角的影响作用不显著。这些结论可为返回舱地面相关试验和结构分析设计提供参考。     

化学气相沉积碳化硅超光滑抛光机理与表面粗糙度影响因素

为实现化学气相沉积碳化硅(CVD SiC)的超光滑抛光,采用纳米划痕试验研究了化学气相沉积碳化硅脆塑转变的临界载荷,根据单颗磨粒受力对其抛光机理进行了分析,并从材料特性、工艺参数以及抛光液pH值三个方面对其表面粗糙度影响因素进行了系统的试验研究.研究结果表明:化学气相沉积碳化硅的稳定抛光过程是磨粒对碳化硅表面的塑性域划痕过程;CVD SiC的晶粒不均匀与表面高点会降低晟终所能达到的表面质量;表面粗糙度在一定范围内随磨粒粒度增加呈近似线性增长,随抛光模硬度的增加而增长;抛光压强对表面粗糙度的影响规律与抛光模的变形行为相关,当抛光模处于弹性或弹塑性变形阶段时,表面粗糙度随抛光压强的增加呈小幅增长,而当抛光模包含塑性变形之后,表面粗糙度基本与抛光压强无关;此外,抛光速度和抛光液pH值对表面粗糙度的影响不大.研究结论为CVD SiC超光滑抛光的工艺参数优化选择提供了定量的试验依据.     

截尾序贯验后加权检验截尾点的优化设计

选取截尾点是截尾序贯验后加权检验很关键的一步,目前理论上尚无有效的选取方法。本文用优化技术确定截尾点Ｃ,克服了实践中确定停时Ｎ和截尾点Ｃ遇到的计算困难,避免了一般取Ｃ＝１的盲目性,使截尾点Ｃ的选取有了理论根据。优选的截尾点不仅使双方承担的风险之和最小,而且使双方承担的风险值相对合理,易于接受。     

水下缩比航行体热尾流的红外探测实验研究

根据缩比模型,建立了缩比红外成像实验测试系统,对水下航行体的体积、航行深度、运动速度、尾流排放等进行了缩比设计,设计了多种实验工况,可实现缩比目标模型红外尾流的静态和动态测试,一方面明确红外尾流的可探测性,另一方面掌握红外尾流可探测性的影响因素以及红外尾流的变化规律,为下一步工作奠定基础。     

寿命分布的参数Bootstrap拟合优度检验方法

拟合优度检验在统计和可靠性等领域具有非常重要的地位,基于参数Bootstrap重采样的思想,对未知参数的常用寿命分布进行拟合优度检验。数值仿真结果表明,相对于传统的经验分布函数检验,这种基于参数Bootstrap的拟合优度检验具有更高的功效,特别是在小样本的情况下,优势明显。     

金属氢化物-镍电池负极制备工艺

用正交法对影响贮氢电池负极制备工艺的因素 :导电剂 ,添加剂 ,粘结剂 ,活化处理和制片压力等进行了研究 ,得到了贮氢电池负极制备工艺的最佳条件。对贮氢电池的各项性能的表征表明 :体现贮氢电池的放电容量 ,循环寿命 ,大电流快速充放电 ,自放电等性能均表现优异。     

GPS接收机模糊搜索粗时定位方法

由于难以获得免时定位算法所需的接收机概略位置,提出模糊搜索的粗时定位方法。为减小搜索空间,在位同步后优选几何精度因子值较好的4颗卫星通过遍历伪距模糊的方式进行位置估计,并基于伪距残余均方根最小准则选出最合理的位置估算结果。根据概略位置恢复所有卫星的完整伪距。利用5状态的免时定位算法估计接收机位置。使用11个国际卫星导航服务观测站的观测数据对算法进行验证,结果表明,在概略位置未知情况下该方法能够实现粗时定位,且定位精度与直接使用完整伪距的精时最小二乘定位精度相当。     

月尘环境材料带电地面模拟试验系统研究

介绍月尘的特点及月尘静电对航天活动的危害,根据月尘环境下材料带电的原理,构建真空环境材料带电地面模拟试验系统.利用装置进行模拟静电月尘对探月航天器的作用,研究月尘静电对登月探测器的静电起电、吸附、耦合及放电效应影响规律,从而初步解决我国在探月工程上月球探测器对月球表面静电防护技术的需求.     

寿命试验持续时间的预测

工程界中诸多电子元器件的寿命都可以看作或近似看作是服从指数分布的,只有经寿命试验掌握各类电子元器件寿命的分布情况,才能对整个电子系统的可靠度有较充分的认识,从而对整个电子系统中的电子设备进行合理布局,优化控制,使其在实际应用中最大程度地发挥其作用。分别给出服从单参数指数分布的样本在寿命试验的早期结果上预测寿命试验的总持续时间的精确与近似方法的证明,并对两种预测方法在不同情况下的预测结果进行比较。