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基于TCAD(Technology Computer-Aided Design)3-D模拟,研究了25 nm鱼鳍型场效应晶体管(Fin Field Effect Transistor,FinFET)中单粒子瞬态效应的工艺参数相关性。研究表明一些重要工艺参数的起伏会对电荷收集产生显著影响,从而影响到电路中传播的SET(Single Event Transient)脉冲宽度。对于最佳工艺拐角,离子轰击后收集的电荷量可以降低约38%,而在最坏工艺拐角下,收集的电荷量则会增加79%。这些结论对FinFET工艺下的SET减缓及抗辐射加固设计提供了一种新的思路。 相似文献
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系统可靠性分配是可靠性设计的重要任务之一,其主要作用是为可靠性设计提供辅助决策。给出了可靠性分配流程,研究了可靠性分配模型的发展状况,重点介绍了可靠性分配问题的求解算法,指出了各类算法在分配中的应用及其需进一步解决的问题,同时分析了国内外典型的分配软件,总结了各软件中可靠性分配的主要功能,最后对可靠性分配提出了进一步的研究展望。 相似文献
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