Does Military Spending Really Matter for Economic Growth in China and G7 Countries: The Roles of Dependency and Heterogeneity

This study revisits the causal linkages between military spending and economic growth in China and G7 countries (i.e. Canada, France, Germany, Italy, Japan, the UK, and the USA) by focusing country-specific analysis for the period 1988–2010. The panel causality analysis, which accounts for both cross-country dependency and heterogeneity across countries, is employed in this study. Our results find evidence of the neutrality hypothesis for Italy, France, and Germany, the military spending–growth detriment hypothesis for both Canada and the UK, and one-way Granger causality running from economic growth to military spending for China. Furthermore, we find a feedback between military spending and economic growth in both Japan and the USA. Thus, our results do not support that one size fits all.     

基于步进加速寿命试验的制导弹药储存寿命评估

介绍步进应力加速寿命试验原理,通过对制导弹药自动导引头贮存状态和失效机理的分析,确定了加速寿命试验应力和应力水平．假设产品寿命服从威布尔分布,应用极大似然估计和Bayes的方法处理数据,建立制导弹药可靠储存寿命预测模型,并计算得到自动导引头在正常应力水平下的可靠储存寿命．     

PXI计算机在一体化多模式发控系统中的应用

针对一体化火控系统的特殊性,提出了基于PXI计算机的发控技术,介绍了PXI总线计算机在一体化火控系统中的设计理念及其在一体化火控系统中的功能实现.应用表明,PXI计算机在火控系统测控领域具有广阔的应用前景.     

深V型滑行艇横摇阻尼的实验确定

对深V型滑行艇模型进行了静水横摇衰减实验和零速正横浪规则波中横摇运动实验,讨论了在处理试验数据时所面临的一些问题;采用分段最小二乘拟合法对静水横摇衰减实验曲线进行光顺,用峰值处理法计算不同横摇角时的横摇阻尼,并进行多项式回归得到深V型滑行艇横摇阻尼公式.     

基于ISP技术的某型防空导弹模拟检测系统研究

给出了某型防空导弹模拟测试系统的总体设计方案和具体电路的实现技术。系统运用ISP技术实现了信号控制和逻辑控制,并重点阐述了导弹模拟信号的控制电路和串行数据的可靠接收及非有效数据剔除电路。     

射击精度小样本检验理论和方法应用研究初探

给出了多维正态分布与x2分布的概率性质,讨论了在小样本检验中如何检验同方差的二维正态分布的方差问题.给出了检验中所涉及到的拒真和纳伪概率的重要物理参数和OC曲线.该结论在武器装备小样本检验中具有重要的意义.     

层次分析法在雷达侦察机仿真试验置信度评估中的应用

本文从雷达侦察机仿真试验系统的实际出发,简要地介绍了试验系统的组成,分析了各系统设备对试验结果的影响因素,说明了利用层次分析法解决实际问题的一般步骤和方法,最后给出了层次分析法在雷达侦察机仿真试验置信度评估中的应用实例。     

新型试验指挥自动化系统

本文从装备试验技术发展的角度提出了装备试验对试验指挥自动化的需求,系统地分析了新型试验指挥自动化系统的功能、基本组成和系统设计中所涉及的关键技术。     

面向对象技术在仿真测试系统中的应用

面向对象技术在软件系统开发中得到了广泛的应用。本文基于作者的分析与理解,阐述了面向对象设计方法的特点及其为软件设计方法所带来的变化。通过面向对象设计方法的应用,实例化了面向对象设计方法的特点,进一步展示了面向对象设计方法可能为软件方法带来的进步。     

基于加速寿命试验的晶体管静电放电潜在性失效的研究

对高频小功率硅双极结型晶体管2SC3356进行静电放电试验,并利用加速寿命试验原理对两组器件进行加速寿命试验。采用Arrhenius模型对试验结果进行计算分析,发现低于损伤阈值的ESD注入可以使器件的寿命缩短,得出ESD可以在高频小功率硅双极结型晶体管内部造成潜在性失效,使得器件寿命缩短。