仿真系统可信度分析

系统仿真可信度研究是合理利用系统仿真结果的前提。分析了系统仿真可信度的研究现状,提出了利用层次分析法进行可信度评估的思路,阐述了仿真试验结果与飞行试验结果进行静态一致性检验和动态一致性检验的方法。讨论了静态一致性检验的置信度,给出了置信度与弃真概率和采伪概率的关系,为提高和考核系统仿真精度奠定了基础。     

基于ML-Ⅱ的指数分布可靠性多层Bayes估计

Bayes估计法是可靠性评估中应用最为广泛的方法之一,指数分布的Bayes验前概率密度函数中的重要参数主要依靠Reformulation法和Box-Tiao法确定,具有较强的主观经验性。基于Beyes估计的基本思想,以试验数据为依据,利用第二类极大似然估计法(ML-Ⅱ估计法)确定Bayes方法中的相关参数,避免了参数确定的主观性。实例表明结果合理,方法客观、可行。     

基于马尔可夫过程的介电函数理论研究

基于马尔可夫过程,研究电介质分别在阶跃电场、方波电场和交变电场条件下的极化过程,并给出了介电函数的一般表达式．     

基于任务的舰空导弹武器系统可靠性试验设计

针对舰空导弹在作战任务和战斗中的使用特点,构建基于远洋任务的使用剖面,利用试验设计与仿真试验相结合的方法,研究舰空导弹武器系统及分系统可靠性对导弹武器系统作战效能的影响。建立舰空导弹武器系统的可靠性模型和使用模型。设置不同的作战任务背景,提出了基于任务的舰空导弹武器系统可靠性对作战效能影响的指标,在设定的3种典型作战任务模式下舰空导弹武器系统可靠性对作战效能的影响进行了试验设计和仿真研究。通过仿真比较了任务条件下各可靠性指标和设定的可靠性增长对作战效能的影响。     

25nm鱼鳍型场效应晶体管中单粒子瞬态的工艺参数相关性

基于TCAD(Technology Computer-Aided Design)3-D模拟,研究了25 nm鱼鳍型场效应晶体管(Fin Field Effect Transistor,FinFET)中单粒子瞬态效应的工艺参数相关性。研究表明一些重要工艺参数的起伏会对电荷收集产生显著影响,从而影响到电路中传播的SET(Single Event Transient)脉冲宽度。对于最佳工艺拐角,离子轰击后收集的电荷量可以降低约38%,而在最坏工艺拐角下,收集的电荷量则会增加79%。这些结论对FinFET工艺下的SET减缓及抗辐射加固设计提供了一种新的思路。     

灰数兰彻斯特方程

为解决联合作战模拟中武器装备的作战能力评估问题,提出了基于打击力、机动力、信息力、防护力、保障力等的武器装备作战能力灰色层次分析模型,目的在于提供在联合作战模拟中,对武器装备的作战能力进行比较的算法。即从打击、机动、信息、防护、保障等来考虑武器装备的性能,采用灰色层次分析的方法,根据灰数的大小确定各类各对象的优劣,由此做出作战能力的合理判断,给出了实例及求解方案。最后,提出了不同灰类的总评估系数作为损耗方程的损耗系数的设想及其算例。     

基于马尔可夫过程的武器系统相关失效分析

利用马尔可夫过程分别对共因失效和载荷共享失效两种相关失效的系统平均失效时间进行了建模分析。针对同时出现两种相关失效的武器系统进行了实例分析,并将结果和不考虑相关失效时的计算结果进行了对比,对相关失效分析在可靠性分析和评价中的重要作用进行了阐述。     

水下传感器网络部署优化研究

水下传感器网络具有广阔的应用前景,但也存在能量有限、延迟较长、部署区域不连通和通信能耗大等问题,理论和实践证明传感器节点的优化部署是解决已上问题的有效方法。为此综合考虑水下传感器网络的工作环境及传感器特性,建立了提高网络可靠性的网络部署模型,给出了网络部署的成本函数及约束条件,并使用遗传算法对传感器节点和中转节点的部署成本及网络生命周期内的能量消耗进行优化。通过仿真实验表明,该模型收敛速度快,部署节点结果合理,达到了较好的优化网络的目的。     

系统可靠性分配的研究进展

系统可靠性分配是可靠性设计的重要任务之一,其主要作用是为可靠性设计提供辅助决策。给出了可靠性分配流程,研究了可靠性分配模型的发展状况,重点介绍了可靠性分配问题的求解算法,指出了各类算法在分配中的应用及其需进一步解决的问题,同时分析了国内外典型的分配软件,总结了各软件中可靠性分配的主要功能,最后对可靠性分配提出了进一步的研究展望。     

A sequential Bayesian generalization of the Jelinski–Moranda software reliability model

The Jelinski–Moranda model of software reliability is generalized by introducing a negative‐binomial prior distribution for the number of faults remaining, together with a Gamma distribution for the rate at which each fault is exposed. This model is well suited to sequential use, where a sequence of reliability forecasts is made in the process of testing or using the software. We also investigate replacing the Gamma distribution with a worst‐case assumption about failure rates (the worst‐case failure rate in models such as this is not infinite, since faults with large failure rates are immediately discovered and removed). © 2006 Wiley Periodicals, Inc. Naval Research Logistics, 2006