基于虚拟仪器技术与边界扫描技术的电路板通用测试系统

为实现对军用电路板的有效测试,针对其小批量和多品种的特点,设计了相应的测试策略。采用了虚拟仪器技术与边界扫描测试技术,构建了基于PXI测试总线的电路板通用测试系统,实现了对电路板的功能测试与结构性测试。该系统可以检测各种类型电路板,对于提高故障定位精度和减少产品的测试时间起重要作用,较好地满足了电路板生产测试和维护测试需求。     

基于LabVIEW和PCI-5640R中频卡的假单脉冲锥扫调制信号模拟

在假单脉冲体制雷达的中频信号模拟中,由DSP配合软件实现的锥扫调制模拟,运算速度慢且数据传输量大。针对该问题,提出了一种基于LabVIEW语言和PCI-5640R中频卡的信号锥扫调制的实现方案,根据中频卡中的FPGA可编程实现多路并行运算的特点,利用LabVIEW对其编程,并进行仿真实验。结果表明：该方法模拟效果好,运算速度快,而且实现简单。     

栅格数据处理中邻域型算法的并行优化方法

随着并行计算的成熟,众多数据密集型的栅格处理算法亟需利用并行计算来缩减执行时间.针对其中一类邻域型算法,构建了用于估计是时间代价的串行/并行时域模型,分析了各个组成的代价影响因素,提出了降低数据I/O代价的并行I/O方法和降低数据通信代价的光圈预测方法.实验证明,所提的两个优化方法可以使邻域型栅格处理算法的并行程序更加充分地利用并行计算资源,进而在一般并行化的基础上进一步提升其并行性能.     

一种彩色地图自动分层的快速算法

彩色地图扫描数据自动分层是地图数字化的关键技术之一。在研究了彩色地图扫描数据中客观存在的颜色误差后,根据彩色地图颜色的变化规律,提出了一种快速分层算法。实验结果表明,利用该方法所得到的分层结果可以快速解决彩色地图的自动分层问题。     

指控系统随机扫描方式CRT视频显示系统改装设计

针对 CRT显示器的缺点提出了对显示部件进行改进设计方案,采用当前在军事领域大量使用的LCD平板显示器和计算机控制技术,利用程控译码器和视频显示器的接口信号,实现显示目的并提高显示效果.在改进方案中采用了A/D转换技术、中断等技术,利用控制信号产生中断进行模拟信号的采集和数字信号的提取,译码后在LCD显示器上复现出来.改进后的显示器除能完成所有CRT显示器的功能外还具有自校准功能,且可以显示中文参数表页,使操作更加简便.     

面向时空交通栅格流量预测的3D通道注意力网络

城市交通流量预测对交通管理和公共安全具有重要意义。然而,交通栅格流量数据中的规律在时刻变化,在城市中存在全局范围的时空间关系,并且不同特征通道在每个城市区域上有不同的重要性。为解决这些挑战并做出更准确的预测,设计了一种新颖的时空神经网络模型——3D通道注意力网络(three-dimensional channel-wise attention networks,3D-CANet)。提出一个3D通道内注意力(three-dimensional inner channel attention,3D-InnerCA)单元来动态捕获各个通道中不同的全局时空相关性,同时设计通道间注意力(inter channel attention,InterCA)单元来自适应地重校准每个区域上不同特征通道的贡献。在3个真实交通栅格流量数据集上的实验结果表明,3D-CANet模型的预测能力优于其他对比方法,证明了模型的有效性。     

雷达天线扫描方式的自动识别方法

为了对雷达天线扫描方式进行自动识别,改进开发了天线扫描方式模拟器,并分别研究了电子扫描和机械扫描的特征提取和识别方法。基于最大主瓣脉冲序列的特征参数实现电子扫描和机械扫描的区分,然后基于单个天线扫描周期脉冲序列的特征参数实现8种机械扫描方式的自动识别。仿真结果表明,本文方法能够区分一维电扫、二维电扫和机械扫描,并且采用支持向量机决策树对机械扫描方式的识别正确率高于决策树方法。     

边界扫描测试中簇测试交迭置入方案研究

针对电路板边界扫描测试中簇测试时间较长、测试效率较低问题 ,以并行测试思想为基础 ,提出了一种簇测试置入方案———交迭置入方案 ,并对其进行了理论分析和实验验证。结果表明 ,该方案是最优的簇测试置入方案 ,可以显著减小簇测试时间 ,提高簇测试效率     

边界扫描测试的数学描述模型

IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计的有效方法,为了高效地应用边界扫描机制对电路系统进行测试,必须对其所涉及的理论方法进行深入探讨。本文应用布尔矩阵理论建立起边界扫描测试的数学描述模型,并基于所建立的模型导出了边界扫描测试中的故障检测条件和故障隔离条件。为边界扫描测试生成算法的深入研究奠定了理论基础。     

基于边界扫描技术的板级测试性优化设计

介绍了边界扫描技术的基本原理,论述了板级电路测试性设计的思想,提出一种基于二进制粒子群算法的板级电路测试性设计最小化优化方法。实验结果表明,该算法在优化效果、运算时间上均获得了较好的结果。