指数寿命产品可靠性增长试验的Bayes分析

针对指数寿命产品的定时、定数截尾试验方案,推广了Mazzuchi-Soyer模型的应用范围。首先引入模型假设,以狄氏分布作为先验分布,综合利用产品研制的历史信息和专家信息,结合产品研制各阶段试验数据,给出了各阶段可靠性的联合后验分布。然后利用Gibbs抽样算法解决后验推断计算问题,得到各阶段产品可靠性的Bayes点估计和区间估计。最后给出产品可靠性增长分析实例,表明了模型的优越性。     

逐步Ⅰ型混合截尾试验下Burr部件的可靠性分析

在逐步Ⅰ型混合截尾试验下,研究了Burr部件寿命参数及可靠性指标的极大似然估计和Bayes估计.利用简单迭代方法,给出了寿命参数和可靠性指标的极大似然估计的数值解.然后利用Lindely Bayes近似算法得到了平方损失下寿命参数以及可靠性指标的Bayes估计.最后,运用Monte-Carlo方法对各估计结果作了模拟比较,结果表明Bayes估计较极大似然估计的误差小.     

基于信息需求的情报支持效能分析

经典的侦察与监测(S&R)系统效能分析方法存在模型难以建立、结果不准确等问题。考虑到S&R系统的目的是提供情报支持,提出一种基于信息需求的S&R系统情报支持效能分析方法。该方法以用户的信息需求为度量基准量,比较S&R系统性能对信息需求的满足度,并以此满足度作为S&R系统效能度量的指标。仿真实例表明了新方法的有用性。     

小子样条件下基于Normal-Poisson过程的性能可靠性评定

对于高可靠、长寿命产品,基于性能退化数据分析可靠性是一种行之有效的技术途径。结合航空航天产品性能退化的机理与现场试验小子样的特点,建立了基于Normal-Poisson过程的性能退化模型。论文在对产品性能退化建模的基础上,结合Bayes方法给出了退化模型参数的估计算法和可靠性推断的公式,最后结合实例说明了方法的有效性。     

IC卡技术在器材保障信息管理中的应用

主要就IC卡技术在我军器材保障信息管理中的初步应用,阐述了基于IC卡技术的便携式器材保障信息系统的特点和系统组成方案,并介绍了实现这种系统方案的关键技术.     

箭（弹）级间螺栓法兰连接结构准静载失效实验与数值仿真研究

基于火箭(导弹)级间螺栓法兰连接结构,简化设计并制作了一组原理性实验件,设计准静载加载实验测试系统,进行了两次准静载失效实验,并利用ABAQUS软件建立对应的有限元模型。实验中设计了螺栓力响应信号采集传感器,获得了螺栓力响应数据、加载力与加载位移等多组关键数据。根据实验效果和实测数据,分析了连接结构在准静载荷载作用下的失效机理,并对比验证了有限元模型数值模拟效果和精度与实验吻合较好。研究结论可为箭(弹)级间连接结构承载能力和失效实验设计提供参考。     

基于矢量分配的组合导航容错联邦滤波算法

针对高动态环境下飞行器组合导航系统因不确定故障导致导航精度下降的问题,提出了一种基于矢量信息分配的容错联邦滤波算法。设计矢量形式的故障检测函数,对各观测量进行单独的故障程度划分,克服了将故障子系统所有观测量同时隔离的缺陷;根据观测量是否异常,重构时变量测噪声矩阵和信息分配矢量系数,对子滤波器的状态变量进行信息分配,在隔离故障子系统异常观测量的同时,最大限度地利用正确观测信息。仿真结果表明,采用该算法能够充分发挥各导航子系统的优势,极大提高了导航子系统信息利用率,具有较高的精确性和容错性。     

5G安全及网络监管问题探析

5G作为当今先进的通信技术,其广泛应用将给整个社会生产生活带来全新变革,相关技术和应用的安全问题,事关社会公共安全和军事利益安全,应纳入总体国家安全观视角下重点考量。本文主要梳理5G关键技术可能带来的网络安全风险,以及相关应用可能给网络监管带来的挑战,并从牢牢把控核心知识产权、综合构建安全保障体系、紧跟推进行业法律规范以及着力完善高效应急措施这四方面探讨相关的应对措施。     

突破美对华信息与通信技术封锁的思考

信息与通信技术是影响国家政治、经济和军事等重要领域的高精尖技术。本文认为,美国政府通过启动"301调查"和建立出口管制实体清单等多种方式对中国信息与通信领域实施技术封锁和产品禁运,将延缓中国信息与通信技术的发展进度,加大全球信息与通信技术产业发展的成本消耗,但同时也刺激并加快了中国信息与通信技术自主可控的转型步伐。据此,本文提出加强顶层设计和统筹谋划、营造自主可控的产业生态环境、加强专业化人才队伍培养、构建合作共赢的命运共同体,努力突破信息与通信技术封锁等几项措施,以期为我国信息与通信技术领域的发展提供一定的借鉴意义。     

Priori information analysis of optocoupler accelerated degradation experiment based on failure mechanism verification test

The optocoupler is a weak link in the inertial navigation platform of a kind of guided munitions. It is necessary to use accelerated storage test to verify the storage life of long storage products. Especially for small sample products, it is very important to obtain prior information for the design and implementation of accelerated degradation test. In this paper, the optocoupler failure mechanism verification test is designed and the experimental results are analyzed and the prior information is obtained. The results show that optocouplers have two failure modes, one is sudden failure and the other is degradation failure; the maximum temperature stress of optocoupler can't exceed 140 °C; the increase of leakage current of optocoupler is caused by movable ions contaminating the LED chip. The surface leakage current is proportional to the adsorption amount. The increase of leakage current makes p-n junction tunneling effect occur which LEDs the failure of the optocoupler. The lifetime distribution model of the optocoupler is determined by the failure physics. The lifetime of the optocoupler is subject to the lognormal distribution. The degeneracy orbit of the optocoupler leakage current is described by a power law model. The estimated values of the orbital parameters are initially calculated and the parameters of its life distribution function are deduced. The above information lays a good foundation for the optimization design and data processing of the accelerated degradation experiment.