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221.
宫云战 《装甲兵工程学院学报》2003,17(1):60-63
软件的缺陷是软件质量的重要因素之一,低缺陷密度的软件是高质量软件的必要条件。软件的缺陷是不可避免的,统计表明,经过PSP训练的软件工程师平均引入的缺陷密度为50个缺陷/kLOC。通过对软件缺陷概念及分类、产生缺陷的原因及如何避免产生缺陷、缺陷排除的分析和软件缺陷与软件故障率之间的关系的研究,探讨了如何研制低缺陷密度的软件。 相似文献
222.
叶军 《中国人民武装警察部队学院学报》2009,25(6):50-53
简要阐述了建筑消防设施的主要分类、作用、维护管理要求等,着重分析了消防供电、供水、设施联动、人机协调等方面可靠性存在的问题,从落实检测保养、人员素质、预案演练、监督检查等方面分析问题形成的原因,并提出解决问题的几点措施。 相似文献
223.
多阶段含延缓纠正的可靠性增长试验,其各个阶段内的试验数据分别服从参数不同的Weibull过程.针对现场样本少、传统的可靠性评估方法实施困难的问题,首先在获得各阶段形状参数的基础上,对各个阶段截尾时刻的失效强度建立顺序约束关系.然后,运用Bayes方法融合先验信息,获得最末阶段截尾时刻的失效强度的期望与置信上限.该结果融合了历史阶段的样本信息,优于仅利用单个阶段样本的分析结果,适用于多阶段可靠性增长试验的综合评估. 相似文献
224.
针对空投某产品时试验多状态、小样本的特点,提出了基于回归折算的性能可靠性评估方法.通过分析投放过程的数学模型,给出入水参数关于投放条件的回归模型,并根据试验数据估计出回归系数.利用回归折算将分散在不同空投条件下的试验数据折算到某一条件下,基于折算后的试验数据得到了较客观的产品入水可靠性评估结果. 相似文献
225.
We present transient and asymptotic reliability indices for a single‐unit system that is subject to Markov‐modulated shocks and wear. The transient results are derived from the (transform) solution of an integro‐differential equation describing the joint distribution of the cumulative degradation process and the state of the modulating process. Additionally, we prove the asymptotic normality of a properly centered and time‐scaled version of the cumulative degradation at time t. This asymptotic result leads to a simple normal approximation for a properly centered and space‐scaled version of the systes lifetime distribution. Two numerical examples illustrate the quality of the normal approximation. © 2009 Wiley Periodicals, Inc. Naval Research Logistics 2009 相似文献
226.
227.
228.
多核异构冗余模型设计与可靠性分析 总被引:3,自引:0,他引:3
为进行电磁仿生研究,提高复杂电磁环境下控制系统运行的可靠性,在一种新型计算机系统结构框架的基础上,提出了多核异构冗余模型,设计了互关总线协议,实现了相应的容错策略,进而进行了异构双机冗余系统的实验,并利用马尔可夫过程模型分析了系统的电磁抗扰能力。实验表明,该模型能够有效地提高系统可靠性,满足相关仿生研究的设计要求。 相似文献
229.
230.
基于三维集成电路技术实现的三维静态随机存储器,其电路中使用了大量的过硅通孔。目前过硅通孔制造工艺尚未成熟,使得过硅通孔容易出现开路或短路故障,从而给三维静态随机存储器的测试带来新的挑战。现有的过硅通孔专用测试方式虽然能够探测出过硅通孔的故障,但需要特定的测试电路来实现,这就增加了额外的面积开销,同时加大了电路设计的复杂度。因此,提出一种使用测试算法来探测过硅通孔开路故障的方法。在不增加额外面积开销的情况下,通过内建自测试电路解决三维静态随机存储器中过硅通孔的开路故障检测问题。结果显示,该过硅通孔测试算法功能正确,能够准确探测到过硅通孔的开路故障,并快速定位过硅通孔的开路位置。 相似文献