导弹发射装置伺服系统模糊PID控制研究

在某型导弹发射装置的伺服系统中,对系统的性能指标要求很高,传统的PID控制往往难以满足要求。以某型导弹发射装置的伺服系统为模型,设计了模糊PID控制器。通过与传统的PID控制器仿真实验对比,可以看出应用模糊PID控制器能够有效提高该伺服系统的动态性能和鲁棒稳定性。     

非匀速直线运动SAR导引头目标回波快速模拟

传统的二维频域快速回波模拟方法是针对平台为匀速直线运动,合成孔径雷达(SAR)导引头一般是非匀速直线运动的,二维频域仿真方法在SAR导引头中并不适用。针对SAR导引头非匀速直线运动情况,在分析回波信号频域特点基础上,提出了非匀速直线运动SAR导引头回波信号快速频域模拟方法,详细介绍了该方法的原理和推导过程。最后,进行了相关仿真实验,实验结果验证了该方法的有效性与合理性。     

移动式综合避雷装置防雷机理与应用

针对石油库重点设施设备的防雷保护特点,提出运用移动式综合避雷装置对油库不同区域进行雷电机动防护。分析了移动式综合避雷装置系统的组成和特点,并应用于实践。移动式综合避雷装置应用于某油库一些重点区域的综合防雷实践中,具有安全、可靠、实用、方便等特点,值得推广应用。     

基于反馈机制的武器装备体系作战能力聚合方法

武器装备体系作战能力聚合对武器装备体系的发展、建设和运用具有重要意义。针对武器装备体系的整体涌现性和作战能力要素的非线性特性,对能力指标间的反馈机制进行研究,提出了一种基于反馈机制的武器装备体系作战能力聚合方法,并通过对某侦察情报装备体系的作战能力聚合算例分析,验证了方法的有效性。     

地方物流供应商“偷懒”行为监管机制研究

军民融合现代军事物流体系中,地方物流供应商往往会"偷懒",这必将损害军民融合现代军事物流体系的整体绩效。首先描述了"偷懒"行为及其危害性,从机制入手,基于博弈论建立地方物流供应商"偷懒"行为监管机制;分析并证明了监管机制的有效性。这一机制的构建对于监管地方物流供应商具有重要作用。     

基于实值离散Gabor变换的阶比跟踪滤波

提出了基于实值离散Gabor变换的阶比跟踪滤波方法．分析了阶比跟踪滤波为时频滤波的实质,给出了如何通过实值离散Gabor变换实现阶比跟踪滤波的步骤．通过对仿真信号阶比跟踪滤波前后的时频分布、阶比谱和时域信号对比,证实本方法能有效滤除阶比混叠成分．通过延长信号两端采样长度的方法可以消除阶比跟踪滤波后端点的误差．     

履带车辆转向过程循环功率分析

针对差速式、独立式2类转向机构,分别给出了不计和计及履带接地段打滑条件下最大循环功率及相应的相对转向半径的计算方法,定量讨论了不计和计及履带接地段打滑时循环功率的差别。在示例给定的计算条件下计算结果表明,计及履带接地段打滑时循环功率较不计打滑时小约20％。实车试验结果证实:考虑履带接地段打滑计算的循环功率同实际值更接近,在分析循环功率时不能忽略履带接地段的打滑。     

一种舰载激光武器系统模型研究

基于舰载激光武器系统和传统火炮武器系统的差别,分析了激光毁伤目标的机理及其大气传输特性,提出了一种舰载激光武器系统火控模型,并研究了舰载激光武器的交战模式及在线杀伤评估算法。最后探讨了舰载激光武器系统的发展趋向。     

炸药装药在压剪加载下的起爆特点

进行了两类压剪加载实验：（１）利用石英的平面正碰撞产生压剪加载的实验,采用电磁质速法测试装药试件内部不同质点的运动情况,分析炸药装药中发生化学反应的可能性;（２）在压剪炮上采用平行倾斜碰撞产生压剪加载的实验,观测炸药装药爆炸的可能性。由实验可以看出：在亚爆轰状态的压缩加载应力条件下,剪切的联合作用对炸药的起爆起到敏化作用,适当比例的压剪加载造成更加敏感的炸药起爆响应。文中给出了起爆响应规律和响应机制的实验分析。     

Priori information analysis of optocoupler accelerated degradation experiment based on failure mechanism verification test

The optocoupler is a weak link in the inertial navigation platform of a kind of guided munitions. It is necessary to use accelerated storage test to verify the storage life of long storage products. Especially for small sample products, it is very important to obtain prior information for the design and implementation of accelerated degradation test. In this paper, the optocoupler failure mechanism verification test is designed and the experimental results are analyzed and the prior information is obtained. The results show that optocouplers have two failure modes, one is sudden failure and the other is degradation failure; the maximum temperature stress of optocoupler can't exceed 140 °C; the increase of leakage current of optocoupler is caused by movable ions contaminating the LED chip. The surface leakage current is proportional to the adsorption amount. The increase of leakage current makes p-n junction tunneling effect occur which LEDs the failure of the optocoupler. The lifetime distribution model of the optocoupler is determined by the failure physics. The lifetime of the optocoupler is subject to the lognormal distribution. The degeneracy orbit of the optocoupler leakage current is described by a power law model. The estimated values of the orbital parameters are initially calculated and the parameters of its life distribution function are deduced. The above information lays a good foundation for the optimization design and data processing of the accelerated degradation experiment.