一种新的高分辨率ADC有效位数测试方法

谱分析法和正弦拟合法是ADC动态特性测试的两种常用方法。但在测试信号源信噪比较低的情况下,两种方法的测试结果都存在较大的偏差。提出了一种新的ADC动态性能测试方法,该方法能较好消除信号源对测量结果的影响,使得在普通信号源下可以测试高分辨率的ADC。仿真分析证明了这一测试方法的正确性。最后给出了采用该方法对一ADC系统的实测结果。